Nexsa Surface Analysis System Brochure

Význam tématu

Povrchová a mezifázová analýza je nezbytná pro pochopení vlastností materiálů v průmyslových i výzkumných aplikacích. XPS patří mezi klíčové techniky umožňující kvantitativní stanovení chemických stavů na povrchu vzorků.

Cíle a přehled studie / článku

Článek představuje systém Nexsa Surface Analysis System, který kombinuje vysoce výkonné XPS se zaměřením na citlivost a prostorové rozlišení a nabízí další techniky jako UPS, REELS, ISS a Raman pro komplexní charakterizaci materiálů.

Použitá metodika a instrumentace

• Mikro-zaostřený monochromatizovaný Al Kα rentgenový zdroj s nastavitelnou velikostí analýzní oblasti 10–400 μm
• Dual beam flood source pro jedinečnou kompenzaci náboje u izolantů
• Ionové zdroje EX06 (monatomové) a MAGCIS (monatomové a plynové clusterové) pro hloubkové profilování
• Integrované techniky: UV photoelectron spectroscopy (UPS), reflected electron energy loss spectroscopy (REELS), ion scattering spectroscopy (ISS), Raman spektroskopie s iXR spektrometrem
• Moduly: tilt module pro ARXPS, vacuum transfer module pro vzduchem citlivé vzorky, sample bias module pro měření pracovních funkcí
• 3kamerový SnapMap systém a software Avantage pro řízení, sběr, zpracování a reporting dat

Hlavní výsledky a diskuse

• Vysoká citlivost a rychlost akvizice díky efektivní elektronové čočce a hemisférickému analyzátoru
• Intuitivní řešení kompenzace náboje výrazně usnadňuje měření izolantů bez nutnosti referencování
• Široké možnosti hloubkového profilování včetně šetrného odstraňování měkčích výběžků s MAGCIS
• SnapMap umožňuje rychlou lokalizaci a generování XPS obrazů se stálou velikostí pixelu a ostrostí
• Automatizace experimentů a inteligentní výchozí nastavení zkracují dobu přípravy a analýzy

Přínosy a praktické využití metody

• Široké aplikační spektrum: baterie, katalyzátory, polovodiče, kovy, polymery a nanomateriály
• Vysoká propustnost laboratoří díky rychlému nahrávání vzorků a bezobslužným běhům
• Komplexní povrchová charakterizace chemického složení, elektronické struktury a molekulárních vazeb
• Zvýšení efektivity QA/QC procesů v průmyslových provozech

Budoucí trendy a možnosti využití

• Další integrace technik a modulární rozšiřitelnost pro specifické aplikace
• Vyšší úroveň automatizace a využití pokročilých algoritmů pro analýzu dat
• Vývoj nových clusterových iontových zdrojů pro jemné hloubkové profilování biologických a polymerních materiálů
• Přechod k inteligentním, samokalibračním systémům a vzdálené řízení

Závěr

Zařízení Nexsa Surface Analysis System představuje univerzální a vysoce výkonné řešení pro povrchovou analýzu pomocí XPS a doplňkových technik, přinášející rychlé, citlivé a reprodukovatelné výsledky pro širokou škálu materiálových aplikací.