Scanning Probe Microscope /Atomic Force Microscope SPM-9700HT Plus
Brožury a specifikace | 2026 | ShimadzuInstrumentace
Analytická charakterizace povrchů na nanometrové úrovni je klíčová pro řadu oborů od materiálového výzkumu až po biotechnologie a průmyslovou kontrolu kvality. Atomic Force Microscope (AFM) umožňuje detailní zobrazení morfologie, mechanických a elektrických vlastností povrchů bez nutnosti speciálního přípravy vzorků.
Text představuje high-performance skenovací sondu mikroskop Shimadzu SPM-9700HT Plus se zaměřením na automatizaci workflow, zkrácení doby měření a rozšíření aplikačních možností prostřednictvím modulárních doplňků a analytické inteligence.
Popisovaná instrumentace a softwarové funkce:
Implementace analytické inteligence vedla ke značnému zkrácení času mezi spuštěním přístroje a prvním měřením, eliminaci variability mezi operátory a minimalizaci chyb v nastavení. Modul Nano3D Mapping Fast snížil dobu mapování fyzikálních vlastností až o polovinu oproti předchozí generaci. Head slide mechanism dále zvýšil propustnost vzorků a usnadnil paralelní provoz na více vzorcích.
Modulární architektura a automatizační funkce zvyšují reprodukovatelnost a efektivitu měření na pracovištích zabývajících se vývojem bateriových elektrod, kompozitních materiálů, magnetických vrstev i biologických vzorků v kapalině. Vestavěné softwarové nástroje umožňují rychlou analýzu morfologie povrchu a mechanických vlastností bez nutnosti externích programů.
Očekává se další rozvoj umělé inteligence pro automatickou interpretaci výsledků, rozšíření rychlého mapování na více parametrů současně a integrace AFM se spektroskopickými metodami. Vzniká potenciál pro in situ a operando měření za extrémních podmínek (teplota, vlhkost, tlak) a pro vysokopropustné screeningové aplikace v průmyslové výrobě.
SPM-9700HT Plus představuje pokročilý AFM systém optimalizovaný pro vysokou propustnost a maximální podporu operátora díky analytické inteligenci a modulárním doplňkům. Přístroj nachází uplatnění ve výzkumu i kvalitativních laboratořích, kde je klíčová rychlost a preciznost nanometrických měření.
Mikroskopie
ZaměřeníVýrobceShimadzu
Souhrn
Význam tématu
Analytická charakterizace povrchů na nanometrové úrovni je klíčová pro řadu oborů od materiálového výzkumu až po biotechnologie a průmyslovou kontrolu kvality. Atomic Force Microscope (AFM) umožňuje detailní zobrazení morfologie, mechanických a elektrických vlastností povrchů bez nutnosti speciálního přípravy vzorků.
Cíle a přehled článku
Text představuje high-performance skenovací sondu mikroskop Shimadzu SPM-9700HT Plus se zaměřením na automatizaci workflow, zkrácení doby měření a rozšíření aplikačních možností prostřednictvím modulárních doplňků a analytické inteligence.
Použitá metodika a instrumentace
Popisovaná instrumentace a softwarové funkce:
- SPM-9700HT Plus: základní jednotka pro AFM/Scanning Probe Microscope.
- Analytical Intelligence: moduly Observation Navigation (plně průvodcovaný start a měření), NanoAssist (automatické nastavení provozních bodů a zisků).
- Nano3D Mapping Fast (volitelně): urychlené mapování fyzikálních vlastností s dobou kolem 27 minut.
- Head slide mechanism: rychlá výměna vzorků bez opětovné kalibrace sondy.
- Cantilever Master: příprava a montáž mikrokantilevery díky speciálnímu přípravku.
- Datová analýza: vestavěné nástroje pro měření drsnosti, částicovou analýzu a morfologické vyhodnocení.
Hlavní výsledky a diskuse
Implementace analytické inteligence vedla ke značnému zkrácení času mezi spuštěním přístroje a prvním měřením, eliminaci variability mezi operátory a minimalizaci chyb v nastavení. Modul Nano3D Mapping Fast snížil dobu mapování fyzikálních vlastností až o polovinu oproti předchozí generaci. Head slide mechanism dále zvýšil propustnost vzorků a usnadnil paralelní provoz na více vzorcích.
Přínosy a praktické využití metody
Modulární architektura a automatizační funkce zvyšují reprodukovatelnost a efektivitu měření na pracovištích zabývajících se vývojem bateriových elektrod, kompozitních materiálů, magnetických vrstev i biologických vzorků v kapalině. Vestavěné softwarové nástroje umožňují rychlou analýzu morfologie povrchu a mechanických vlastností bez nutnosti externích programů.
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekává se další rozvoj umělé inteligence pro automatickou interpretaci výsledků, rozšíření rychlého mapování na více parametrů současně a integrace AFM se spektroskopickými metodami. Vzniká potenciál pro in situ a operando měření za extrémních podmínek (teplota, vlhkost, tlak) a pro vysokopropustné screeningové aplikace v průmyslové výrobě.
Závěr
SPM-9700HT Plus představuje pokročilý AFM systém optimalizovaný pro vysokou propustnost a maximální podporu operátora díky analytické inteligenci a modulárním doplňkům. Přístroj nachází uplatnění ve výzkumu i kvalitativních laboratořích, kde je klíčová rychlost a preciznost nanometrických měření.
Použitá instrumentace
- SPM-9700HT Plus (Shimadzu)
- Observation Navigation, NanoAssist
- Nano3D Mapping Fast (volitelně)
- Head slide mechanism
- Cantilever Master jig
- Vestavěné datové analyzátory povrchové drsnosti, částic a morfologie
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Scanning Probe Microscope SPM-9700HT
2022|Shimadzu|Brožury a specifikace
C147-E017A Scanning Probe Microscope SPM-9700HT Scanning Probe Microscope SPM-9700HT ™ Making the Unknown Visible Scanning probe microscope (SPM) is a generic term for microscopes that scan sample surfaces with an extremely sharp probe to observe their three-dimensional image or local…
Klíčová slova
cantilever, cantileverimage, imagescanner, scannerforce, forcemicroscope, microscopespm, spmunit, unitscanning, scanningobservation, observationslide, slidehead, headoptical, opticalsurface, surfacemode, modemechanism
Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
2022|Shimadzu|Brožury a specifikace
C10G-E093 Support for Product Evaluation to Quality Control of Electronic Components Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Devices Shimadzu Analytical and Measuring Instruments Used in Electrical/Electronic Fields Electronic devices and semiconductor technologies support a variety of industries and add comfort…
Klíčová slova
measurement, measurementcircuit, circuitray, rayevaluation, evaluationelectronic, electronicobservation, observationboard, boardmicroscope, microscopespm, spmforce, forcefilm, filmimage, imageanalysis, analysissolder, soldermachine
Solutions for Cellulose Nanofibers
2019|Shimadzu|Příručky
C10G-E076 Cellulose Nanofibers Solutions for Cellulose Nanofibers Application Notebook Introduction Cellulose nanofibers (CNF) are plant-derived carbon-neutral materials which are light-weight and strong, yet they also exhibit high elasticity and resistance to heat. Furthermore, the main component of CNF, cellulose, can…
Klíčová slova
cnf, cnffiber, fibercellulose, celluloseobservation, observationlength, lengthmeasurement, measurementdispersibility, dispersibilityfibers, fibersflexural, flexuraldefibrating, defibratingnews, newsnanofibers, nanofibersdefibration, defibrationreinforced, reinforcedhdpe
Analysis and Testing of Lithium-Ion Battery Materials
2021|Shimadzu|Brožury a specifikace
C10G-E088 Analysis and Testing of Lithium-Ion Battery Materials Multifaceted Solutions for Improving Performance and Quality of Lithium-Ion Secondary Batteries In the field of transport equipment, which long life, and safety must be resolved. Research accounts for approximately 20% of CO…
Klíčová slova
cantilever, cantileverelectrolytic, electrolyticlithium, lithiumdeflection, deflectionbatteries, batteriespiezo, piezoelectrode, electrodeseparators, separatorsxspecia, xspeciaion, ionbattery, batterylipon, liponforce, forcecarbonate, carbonateelectrolytes
