Analysis of Contaminations on a Plastic Part using the FT-IR Microscope LUMOS II
Aplikace | 2021 | Bruker OpticsInstrumentace
Plastové komponenty často obsahují mikroskopické nečistoty, které ovlivňují výkon a kvalitu výrobků. FT-IR mikroskopie umožňuje identifikovat organické i anorganické kontaminanty s vysokým prostorovým rozlišením, což je klíčové pro zpětné vysledování zdrojů defektů.
Cílem studie bylo lokalizovat a chemicky charakterizovat černé pruhy na vzorku polykarbonátu. Pomocí FT-IR mikroskopu LUMOS II bylo možné určit, zda jsou pruhy povrchové nebo zakotvené v matrici a identifikovat jejich původ.
Pro analýzu byl použit FT-IR mikroskop LUMOS II s integrovaným spektrometrem a motorickou ATR optikou z germania. Režimy měření zahrnovaly ATR, transmisní a reflexní módy. Spektra byla získána při rozlišení 4 cm⁻¹, doba akvizice na pozici činila 17 s. Uživatelsky přívětivý OPUS Video-wizard zajišťoval automatizaci celého postupu včetně pozicování vzorku a zpracování dat.
Na vizuálním a makroskopickém snímku byly vyznačeny šesti body měření na černých pruzích a čistém poli. Spektra černých míst ukázala odlišné absorpční pásy od polykarbonátu. Analýzou rozdílového spektra a vyhledáním v knihovně bylo určeno, že kontaminace byla způsobena černým inkoustem z fixu.
Očekává se další rozvoj plně automatizovaných FT-IR systémů s umělou inteligencí pro rychlejší analýzu a interpretaci spekter. Metoda má potenciál ve forenzní analýze, sledování migrace kontaminantů, analýze mikroplastů a rozšíření do potravinářského či farmaceutického průmyslu.
FT-IR mikroskop LUMOS II představuje kompaktní, uživatelsky přívětivý a výkonný nástroj pro analýzu kontaminací na plastových dílech. Díky vysoké citlivosti a automatizaci umožňuje rychlou detekci a identifikaci defektů bez náročné přípravy vzorku.
FTIR Spektroskopie
ZaměřeníMateriálová analýza
VýrobceBruker
Souhrn
Význam tématu
Plastové komponenty často obsahují mikroskopické nečistoty, které ovlivňují výkon a kvalitu výrobků. FT-IR mikroskopie umožňuje identifikovat organické i anorganické kontaminanty s vysokým prostorovým rozlišením, což je klíčové pro zpětné vysledování zdrojů defektů.
Cíle a přehled studie
Cílem studie bylo lokalizovat a chemicky charakterizovat černé pruhy na vzorku polykarbonátu. Pomocí FT-IR mikroskopu LUMOS II bylo možné určit, zda jsou pruhy povrchové nebo zakotvené v matrici a identifikovat jejich původ.
Použitá metodika a instrumentace
Pro analýzu byl použit FT-IR mikroskop LUMOS II s integrovaným spektrometrem a motorickou ATR optikou z germania. Režimy měření zahrnovaly ATR, transmisní a reflexní módy. Spektra byla získána při rozlišení 4 cm⁻¹, doba akvizice na pozici činila 17 s. Uživatelsky přívětivý OPUS Video-wizard zajišťoval automatizaci celého postupu včetně pozicování vzorku a zpracování dat.
Hlavní výsledky a diskuse
Na vizuálním a makroskopickém snímku byly vyznačeny šesti body měření na černých pruzích a čistém poli. Spektra černých míst ukázala odlišné absorpční pásy od polykarbonátu. Analýzou rozdílového spektra a vyhledáním v knihovně bylo určeno, že kontaminace byla způsobena černým inkoustem z fixu.
Přínosy a praktické využití metody
- Vysoké prostorové rozlišení až čtyřnásobné oproti transmisi či reflexi díky germanovým ATR objektivům
- Minimální příprava vzorku, analýza povrchových defektů přímo na výrobku
- Automatizace měření i zpracování dat vhodná pro rutinní provoz v QC laboratořích
- Rychlá identifikace neznámých látek s využitím vestavěné knihovny
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekává se další rozvoj plně automatizovaných FT-IR systémů s umělou inteligencí pro rychlejší analýzu a interpretaci spekter. Metoda má potenciál ve forenzní analýze, sledování migrace kontaminantů, analýze mikroplastů a rozšíření do potravinářského či farmaceutického průmyslu.
Závěr
FT-IR mikroskop LUMOS II představuje kompaktní, uživatelsky přívětivý a výkonný nástroj pro analýzu kontaminací na plastových dílech. Díky vysoké citlivosti a automatizaci umožňuje rychlou detekci a identifikaci defektů bez náročné přípravy vzorku.
Reference
- Bruker Optics. Application Note AN M101: Analysis of Contaminations on a Plastic Part using the FT-IR Microscope LUMOS II; 2021.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II
2021|Bruker|Aplikace
Application Note AN M106 Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II Introduction The analysis of electronic devices is a complex task since modern systems are highly miniaturized and composed of all kinds of…
Klíčová slova
cmos, cmosftir, ftirlumos, lumoscontaminations, contaminationschip, chipcircuit, circuitgold, goldmicroscope, microscopewhich, whichsmall, smallcontact, contactcontamination, contaminationstructures, structuresvery, veryboth
Failure analysis of packaging materials
2021|Bruker|Aplikace
Application Note AN M112 Failure analysis of packaging materials Introduction Packaging materials are often composed of various layers that fulfill different functions. The actual packaging foil has a barrier function and is, depending on its intended purpose, already made from…
Klíčová slova
foil, foilspectral, spectralpackaging, packagingopus, opusspectrum, spectrumsearch, searchdefects, defectsred, redmaterials, materialspca, pcaanalysis, analysisimage, imagemixture, mixturelumos, lumosdefective
Analysis of Polymers and Plastics
2021|Bruker|Brožury a specifikace
Analysis of Polymers and Plastics Quality Control & Failure Analysis Innovation with Integrity F T-IR Reliable quality control is essential to achieve a cost-saving production of high quality plastic products. Bruker’s ALPHA II provides a FT-IR spectroscopy-based solution for powerful…
Klíčová slova
lumos, lumosquality, qualityalpha, alphainvenio, invenioplastics, plasticsfailure, failureproduct, productanalysis, analysischemical, chemicalspectroscopy, spectroscopypolymer, polymeroutgassing, outgassingpolymers, polymersplastic, plasticcontrol
FT-IR Microscopic Analysis of Micro-particles
2021|Bruker|Aplikace
Application Note AN M105 FT-IR Microscopic Analysis of Micro-particles Introduction There are numerous fields of application where the analysis of micro-particles is of considerable interest. Microparticles can appear for instance as a contamination of products like pharmaceuticals and electronics or…
Klíčová slova
inclusion, inclusionmicro, microlumos, lumosmicroscopic, microscopicparticle, particlepharmaceutical, pharmaceuticalexamined, examinedmotorization, motorizationspectrum, spectrummoveable, moveablenature, natureorder, orderclearly, clearlychemical, chemicalgold
