K-Alpha: Mapping of the Work Function of a Damaged Solar Cell
Aplikace | 2011 | Thermo Fisher ScientificInstrumentace
X-ray
ZaměřeníMateriálová analýza
VýrobceThermo Fisher Scientific
Souhrn
Význam tématu
V materiálové technologii je klíčové řídit nejen chemické složení, ale i elektrické vlastnosti povrchů. Měření a mapování pracovní funkce přispívá k pochopení chování solárních článků, diagnostice poruch a optimalizaci výrobních procesů.Cíle a přehled studie
Cílem bylo využít fotoelektronové spektrometrie XPS (Thermo Scientific K-Alpha) k měření a prostorovému mapování pracovní funkce poškozeného tenkovrstvého solárního článku na bázi CIGS. Identifikovány byly tři oblasti odpovídající odlišným materiálům a stupni poškození způsobeného delaminací.Použitá metodika a instrumentace
- Instrument: Thermo Scientific K-Alpha XPS s monochromovaným Al Kα zdrojem (1486,6 eV).
- Kalibrace energie: interní standardy (Au, Ag, Cu) a automatické vyrovnání Fermiho úrovně.
- Měření pracovní funkce: analýza nízkého a vysokého cut-offu energetického spektra a výpočet rozdílu vůči fotonové energii.
- Software: Thermo Scientific Avantage s pokročilými PCA algoritmy pro zpracování a vizualizaci dat.
Hlavní výsledky a diskuse
- Optický snímek tří analyzovaných oblastí: nepoškozená ITO vrstva, stříbrný kontakt a molybdenová vrstva se zbytky CIGS.
- Mapa pracovní funkce vytvořená pomocí 50 µm X-ray spotu jasně odlišila jednotlivé materiály dle jejich elektrických vlastností.
- PCA analýza zlepšila kontrast a umožnila přesné vymezení regionů s odlišnou pracovní funkcí.
- Naměřené hodnoty odpovídají chemickému složení a stupni poškození povrchu.
Přínosy a praktické využití metody
- Rychlé a přesné stanovení pracovní funkce materiálů.
- Možnost prostorového mapování zachycující heterogenitu povrchu.
- Užitečné pro kontrolu kvality, analýzu defektů a vývoj solárních článků.
Budoucí trendy a možnosti využití
- Vývoj vyššího prostorového rozlišení mapovacích technik XPS.
- Integrace in situ měření za provozních podmínek.
- Spojení mapování pracovní funkce s chemickou analýzou a 3D tomografií.
- Využití strojového učení pro automatizovanou interpretaci rozsáhlých datových sad.
Závěr
Shrnutí potvrzuje schopnost XPS K-Alpha efektivně mapovat pracovní funkci poškozených solárních článků a korelovat elektrické vlastnosti s chemickým složením, což přináší cenné informace pro průmyslovou i výzkumnou sféru.Reference
- Paul Mack, Tim Nunney, John Wolstenholme: K-Alpha: Mapping of the Work Function of a Damaged Solar Cell. Application Note 52078, Thermo Fisher Scientific, 2011.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
K-Alpha: Compositional XPS Analysis of a Cu(In,Ga)Se2 Solar Cell
2011|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Application Note: 52165 K-Alpha: Compositional XPS Analysis of a Cu(In,Ga)Se2 Solar Cell Tim Nunney, Thermo Fisher Scientific, East Grinstead, West Sussex, UK Key Words • K-Alpha The Thermo Scientific K-Alpha XPS was used to investigate the elemental and chemical structure…
Klíčová slova
cigs, cigsalpha, alphasolar, solardepth, depthlighting, lightinglayer, layerreflex, reflexprofiled, profiledthin, thinprofile, profilefilm, filmxps, xpscell, cellthermo, thermoafrica
K-Alpha: Energy Scale Linearity and Calibration
2008|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Technical Note: 31092 K-Alpha: Energy Scale Linearity and Calibration Peak Key Words Au 4f7/2 Ag 3d5/2 Cu 2p3/2 Cu L3VV • Surface Analysis • Energy Scale Calibration • Energy Scale Stability Reference Binding Energy (eV) Scan Start Energy (eV) Scan…
Klíčová slova
energy, energybinding, bindingcalibration, calibrationscale, scaleavantage, avantagedata, dataxps, xpsmonochromator, monochromatorprocedure, procedureafrica, africacollection, collectioninstrument, instrumentposition, positionparabola, parabolaalignment
Energy Dispersive Spectrometry Analysis of a CIGS Solar Cell
2009|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Application Note: 51733 Energy Dispersive Spectrometry Analysis of a CIGS Solar Cell Pat Camus, Ph.D., Thermo Fisher Scientific, Madison, WI, USA Abstract Key Words • CIGS • COMPASS The Thermo Scientific NORAN System 7 energy dispersive spectrometry (EDS) system was…
Klíčová slova
cigs, cigssolar, solarmagnification, magnificationlayer, layereds, edscompass, compasscell, cellimaging, imagingelectron, electronmaps, mapsafrica, africaspectral, spectralthin, thinray, raydispersive
Characterization of High-k Dielectric Materials on Silicon Using Angle Resolved XPS
2008|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Application Note: 31021 Characterization of High-k Dielectric Materials on Silicon Using Angle Resolved XPS Introduction Key Words • Surface Analysis • Chemical State • Distribution of Elements • Film Thickness • Uniformity The decreasing dimensions of transistors in integrated circuits…
Klíčová slova
layer, layersilicon, siliconthickness, thicknessarxps, arxpsuniformity, uniformitydielectric, dielectricdioxide, dioxidebinding, bindinglayers, layersoxide, oxidexps, xpsinterfacial, interfacialchemical, chemicaldeposition, depositionhafnium