ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

K-Alpha: Accurate Feature Alignment with Unique Reflex Optics

Aplikace | 2008 | Thermo Fisher ScientificInstrumentace
X-ray
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Thermo Fisher Scientific

Souhrn

Význam tématu


Správné vyobrazení a nasvícení vzorku jsou klíčové pro spolehlivou a reprodukovatelnou analýzu pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Kombinace přesné vizualizace a optimální intenzity osvětlení zvyšuje citlivost měření a zkracuje dobu nastavení experimentu.

Cíle a přehled studie


Cílem dokumentu je představit unikátní systém reflexních optik přístroje Thermo Scientific K-Alpha, který umožňuje simultánní vysokou citlivost XPS a komfortní vizuální zobrazení. Studie popisuje tři kamery pro různé fáze přípravy a nastavení vzorku a dvě formy osvětlení vhodné pro odlišné typy povrchů.

Použitá instrumentace


  • Rentgenový spektrometr Thermo Scientific K-Alpha
  • Malopunk­tový rentgenový zdroj
  • Tři kamery: Platter View, Live Reflex Optics a Height Setting
  • Koaxiální a difuzní světelné zdroje integrované v reflexních optikách

Hlavní výsledky a diskuse


Reflexní optika kombinuje obraz získaný kolmo na povrch se sběrem fotoelektronů ve stejném směru. Platter View slouží k předběžnému zaměření vzorku v nakládací komoře, Live Reflex Optics umožňuje vysoké zvětšení přímo v analytické komoře a Height Setting kamera zajišťuje přesné nastavení výšky. Systém osvětlení nabízí koaxiální světlo pro lesklé povrchy a difuzní světlo pro hrubé či práškové vzorky. Ukázky (kráter vznikající iontovým paprskem, vzorek papíru, polovodičová struktura) demonstrují, jak volba osvětlení ovlivňuje kontrast a detail obrazu.

Přínosy a praktické využití metody


Metoda umožňuje:
  • Rychlé a přesné umístění analýzy na malé plochy
  • Maximální citlivost XPS bez nutnosti kompromisů mezi zrakovým nastavením a sběrem signálu
  • Flexibilní volbu osvětlení podle typu vzorku
  • Úsporu času díky paralelní přípravě a měření vzorků

Budoucí trendy a možnosti využití


Další rozvoj může směřovat k plně automatizovanému zarovnávání vzorku pomocí algoritmů strojového učení, integraci multispektrálních kamer a kombinaci XPS s jinými povrchovými zobrazovacími metodami. Vznikají také možnosti propojení s online kontrolou výrobních procesů.

Závěr


Thermo Scientific K-Alpha přináší pokročilý optický systém reflexních optik, který zajišťuje vysokou citlivost XPS a současně pohodlné a přesné nastavení vzorku. Díky kombinaci tří kamer a variabilního osvětlení je možné analyzovat široké spektrum vzorků s minimální ztrátou času.

Reference


Application Note 31091, Thermo Fisher Scientific

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
K-Alpha: A New Concept in XPS
K-Alpha: A New Concept in XPS
2008|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Application Note: 31094 Key Words • Surface Analysis • Automation • Integrated Design • Monochromated, Small Spot XPS • Optimized Geometry K-Alpha: A New Concept in XPS Thermo Scientific K-Alpha has been designed to maximize the throughput and efficiency of…
Klíčová slova
view, viewreflex, reflexposition, positionplatter, platteralpha, alphaanalysis, analysisheight, heightgun, guncamera, cameraloadlock, loadlockillumination, illuminationlive, liveflood, floodavantage, avantagesample
K-Alpha X-ray photoelectron spectrometer (XPS) system
K-Alpha X-ray photoelectron spectrometer (XPS) system
2017|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
K-Alpha X-ray photoelectron spectrometer (XPS) system Fast, powerful and accessible chemical analysis for surface and thin film characterization K-Alpha XPS spectrometer Designed for performance and productivity High-performance spectroscopy The Thermo Scientific™ K-Alpha™ X-ray photoelectron spectrometer features a high-performance, microfocusing X-ray…
Klíčová slova
alpha, alphacamera, cameraxps, xpsspectrometer, spectrometerreflex, reflexray, rayphotoelectron, photoelectroninsulator, insulatorimage, imageview, viewanalyzer, analyzeranalysis, analysiscompensation, compensationmodule, modulesurvey
Fast, Effective XPS Point Analysis of Metal Components
Fast, Effective XPS Point Analysis of Metal Components
2012|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Application Note: 52297 Fast, Effective XPS Point Analysis of Metal Components Chris Baily and Tim Nunney, Thermo Fisher Scientific, East Grinstead, West Sussex, UK Key Words • K-Alpha • Auto-Analysis • Multi-Spectrum • Point Analysis • Surface Analysis • Survey…
Klíčová slova
platter, platteralpha, alphaxps, xpsview, viewobject, objectdragged, draggedpoint, pointexperiment, experimentsurvey, surveydiscoloration, discolorationelements, elementsray, rayscans, scansused, usedoxide
Versatile XPS system for ultra-thin film analysis
Versatile XPS system for ultra-thin film analysis
2013|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
Thermo Scientific Theta Probe Surface Analysis System Versatile XPS system for ultra-thin film analysis Thermo Scientific Theta Probe Powerful tools for ultra thin film analysis The Thermo Scientific™ Theta Probe is a high performance XPS system designed for ultra-thin film…
Klíčová slova
theta, thetaparxps, parxpsgun, gunavantage, avantagethin, thinray, rayprobe, probesource, sourceanode, anodedepth, depthelectron, electronfilm, filmlayers, layersmicrofocused, microfocusedspectroscopy
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.