K-Alpha: Accurate Feature Alignment with Unique Reflex Optics
Aplikace | 2008 | Thermo Fisher ScientificInstrumentace
Správné vyobrazení a nasvícení vzorku jsou klíčové pro spolehlivou a reprodukovatelnou analýzu pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Kombinace přesné vizualizace a optimální intenzity osvětlení zvyšuje citlivost měření a zkracuje dobu nastavení experimentu.
Cílem dokumentu je představit unikátní systém reflexních optik přístroje Thermo Scientific K-Alpha, který umožňuje simultánní vysokou citlivost XPS a komfortní vizuální zobrazení. Studie popisuje tři kamery pro různé fáze přípravy a nastavení vzorku a dvě formy osvětlení vhodné pro odlišné typy povrchů.
Reflexní optika kombinuje obraz získaný kolmo na povrch se sběrem fotoelektronů ve stejném směru. Platter View slouží k předběžnému zaměření vzorku v nakládací komoře, Live Reflex Optics umožňuje vysoké zvětšení přímo v analytické komoře a Height Setting kamera zajišťuje přesné nastavení výšky. Systém osvětlení nabízí koaxiální světlo pro lesklé povrchy a difuzní světlo pro hrubé či práškové vzorky. Ukázky (kráter vznikající iontovým paprskem, vzorek papíru, polovodičová struktura) demonstrují, jak volba osvětlení ovlivňuje kontrast a detail obrazu.
Metoda umožňuje:
Další rozvoj může směřovat k plně automatizovanému zarovnávání vzorku pomocí algoritmů strojového učení, integraci multispektrálních kamer a kombinaci XPS s jinými povrchovými zobrazovacími metodami. Vznikají také možnosti propojení s online kontrolou výrobních procesů.
Thermo Scientific K-Alpha přináší pokročilý optický systém reflexních optik, který zajišťuje vysokou citlivost XPS a současně pohodlné a přesné nastavení vzorku. Díky kombinaci tří kamer a variabilního osvětlení je možné analyzovat široké spektrum vzorků s minimální ztrátou času.
Application Note 31091, Thermo Fisher Scientific
X-ray
ZaměřeníMateriálová analýza
VýrobceThermo Fisher Scientific
Souhrn
Význam tématu
Správné vyobrazení a nasvícení vzorku jsou klíčové pro spolehlivou a reprodukovatelnou analýzu pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS). Kombinace přesné vizualizace a optimální intenzity osvětlení zvyšuje citlivost měření a zkracuje dobu nastavení experimentu.
Cíle a přehled studie
Cílem dokumentu je představit unikátní systém reflexních optik přístroje Thermo Scientific K-Alpha, který umožňuje simultánní vysokou citlivost XPS a komfortní vizuální zobrazení. Studie popisuje tři kamery pro různé fáze přípravy a nastavení vzorku a dvě formy osvětlení vhodné pro odlišné typy povrchů.
Použitá instrumentace
- Rentgenový spektrometr Thermo Scientific K-Alpha
- Malopunktový rentgenový zdroj
- Tři kamery: Platter View, Live Reflex Optics a Height Setting
- Koaxiální a difuzní světelné zdroje integrované v reflexních optikách
Hlavní výsledky a diskuse
Reflexní optika kombinuje obraz získaný kolmo na povrch se sběrem fotoelektronů ve stejném směru. Platter View slouží k předběžnému zaměření vzorku v nakládací komoře, Live Reflex Optics umožňuje vysoké zvětšení přímo v analytické komoře a Height Setting kamera zajišťuje přesné nastavení výšky. Systém osvětlení nabízí koaxiální světlo pro lesklé povrchy a difuzní světlo pro hrubé či práškové vzorky. Ukázky (kráter vznikající iontovým paprskem, vzorek papíru, polovodičová struktura) demonstrují, jak volba osvětlení ovlivňuje kontrast a detail obrazu.
Přínosy a praktické využití metody
Metoda umožňuje:
- Rychlé a přesné umístění analýzy na malé plochy
- Maximální citlivost XPS bez nutnosti kompromisů mezi zrakovým nastavením a sběrem signálu
- Flexibilní volbu osvětlení podle typu vzorku
- Úsporu času díky paralelní přípravě a měření vzorků
Budoucí trendy a možnosti využití
Další rozvoj může směřovat k plně automatizovanému zarovnávání vzorku pomocí algoritmů strojového učení, integraci multispektrálních kamer a kombinaci XPS s jinými povrchovými zobrazovacími metodami. Vznikají také možnosti propojení s online kontrolou výrobních procesů.
Závěr
Thermo Scientific K-Alpha přináší pokročilý optický systém reflexních optik, který zajišťuje vysokou citlivost XPS a současně pohodlné a přesné nastavení vzorku. Díky kombinaci tří kamer a variabilního osvětlení je možné analyzovat široké spektrum vzorků s minimální ztrátou času.
Reference
Application Note 31091, Thermo Fisher Scientific
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
K-Alpha: A New Concept in XPS
2008|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Application Note: 31094 Key Words • Surface Analysis • Automation • Integrated Design • Monochromated, Small Spot XPS • Optimized Geometry K-Alpha: A New Concept in XPS Thermo Scientific K-Alpha has been designed to maximize the throughput and efficiency of…
Klíčová slova
view, viewreflex, reflexposition, positionplatter, platteralpha, alphaanalysis, analysisheight, heightgun, guncamera, cameraloadlock, loadlockillumination, illuminationlive, liveflood, floodavantage, avantagesample
K-Alpha X-ray photoelectron spectrometer (XPS) system
2017|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
K-Alpha X-ray photoelectron spectrometer (XPS) system Fast, powerful and accessible chemical analysis for surface and thin film characterization K-Alpha XPS spectrometer Designed for performance and productivity High-performance spectroscopy The Thermo Scientific™ K-Alpha™ X-ray photoelectron spectrometer features a high-performance, microfocusing X-ray…
Klíčová slova
alpha, alphacamera, cameraxps, xpsspectrometer, spectrometerreflex, reflexray, rayphotoelectron, photoelectroninsulator, insulatorimage, imageview, viewanalyzer, analyzeranalysis, analysiscompensation, compensationmodule, modulesurvey
Fast, Effective XPS Point Analysis of Metal Components
2012|Thermo Fisher Scientific|Aplikace
Application Note: 52297 Fast, Effective XPS Point Analysis of Metal Components Chris Baily and Tim Nunney, Thermo Fisher Scientific, East Grinstead, West Sussex, UK Key Words • K-Alpha • Auto-Analysis • Multi-Spectrum • Point Analysis • Surface Analysis • Survey…
Klíčová slova
platter, platteralpha, alphaxps, xpsview, viewobject, objectdragged, draggedpoint, pointexperiment, experimentsurvey, surveydiscoloration, discolorationelements, elementsray, rayscans, scansused, usedoxide
Versatile XPS system for ultra-thin film analysis
2013|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
Thermo Scientific Theta Probe Surface Analysis System Versatile XPS system for ultra-thin film analysis Thermo Scientific Theta Probe Powerful tools for ultra thin film analysis The Thermo Scientific™ Theta Probe is a high performance XPS system designed for ultra-thin film…
Klíčová slova
theta, thetaparxps, parxpsgun, gunavantage, avantagethin, thinray, rayprobe, probesource, sourceanode, anodedepth, depthelectron, electronfilm, filmlayers, layersmicrofocused, microfocusedspectroscopy