ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
LECO
Pomůžeme Vám nalézt vhodné zařízení pro tepelnou analýzu, metalografii nebo hmotnostní spektrometrii a poskytneme Vám školení, aplikační podporu a servis, který potřebujete k udržení chodu laboratoře na nejvyšší možné úrovni.
Logo of LinkedIn

The LECO GDS 900/950 Series - The New Benchmark In Optical Glow Discharge Spectrometry

ZÁZNAM | Proběhlo Čt, 28.3.2024
Získejte hluboké znalosti o nejnovějších technikách a technologiích používaných v Glow Discharge spektrometrii.
Přejít na webinář
LECO: The LECO GDS 900/950 Series - The New Benchmark In Optical Glow Discharge Spectrometry

LECO: The LECO GDS 900/950 Series - The New Benchmark In Optical Glow Discharge Spectrometry

Unveiling Precision In Elemental Analysis With LECO's GDS900/950 Glow Discharge Spectrometer (GDS) Series

Our GDS 900/950 Glow Discharge Spectrometer (GDS) series offers state-of-the-art technology designed for routine elemental determination and compositional depth profiling across a spectrum of solid matrices—both conductive and non-conductive. We invite you to join our upcoming webinar where you can enhance your analytical capabilities with LECO's groundbreaking solutions.

This webinar is designed for scientists, researchers, spectrometer instrument users, and quality control departments. Acquire a profound understanding of the latest techniques and technologies used in Glow Discharge Spectrometry, empowering you with the knowledge to enhance your research and ensure compliance with industry standards.

The Webinar Will Cover The Following Technical Advantages:

Low-Cost Operation
  • Purge gas recirculation decreases argon gas use
  • Reduced reference material consumption
Spectral Information
  • Full spectral coverage from 120 to 460nm; expandable to 850nm
  • Up to 30pm (0.030nm) spectra resolution
Analytical Opportunities
  • Bulk elemental analysis and/or compositional depth profiling
  • Analyze electrically conductive and/or non-conductive samples

Presenter: Michael Jakob (LECO European Field Product Manager)

Presenter: Stefan Böhm (LECO European Field Product Specialist GDS)

Presenter: Natasha Mulji (Sales and Marketing Strategist)

LECO
 

Mohlo by Vás zajímat

Utilizing hyphenated EC-Raman to study a model system

Aplikace
| 2024 | Metrohm
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie

Agilent Automation (ICP/MS & ICP/OES)

Brožury a specifikace
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní

Analysis of Elemental Impurities in Lithium-Ion Secondary Battery Electrolytes Using the ICPE- 9800 Series

Aplikace
| 2024 | Shimadzu
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie

OMNIS NIRS

Brožury a specifikace
| 2024 | Metrohm
Instrumentace
NIR Spektroskopie, Software
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Ostatní

Improved Lab Efficiency with the Agilent 18-Cell Changer Accessory

Technické články
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.