ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
Bruker
Bruker
Bruker nabízí nejkomplexnější škálu vědeckých přístrojů na světě, které jsou k dispozici pod jednou značkou - značka je synonymem excelence, inovace a kvality.
Tagy
Mikroskopie
LinkedIn Logo

AFM Probes: From Fabrication to Functionality

ZÁZNAM | Proběhlo Čt, 8.5.2025
Vydejte se s námi na cestu procesem výroby sond v nejmodernějším závodě společnosti Bruker v Camarillu v Kalifornii, kde ze surového materiálu vyrábíme sondy.
Přejít na webinář
Bruker: AFM Probes: From Fabrication to Functionality
Bruker: AFM Probes: From Fabrication to Functionality

Bruker, a leader in AFM technology, manufactures a diverse range of AFM probes designed to meet the needs of various research and industrial applications. In this webinar, Bruker AFM probe experts will describe the intricate fabrication process of Bruker's AFM probes and highlight the probes’ unique features, applications, and benefits.

Join us on a journey through the probe fabrication process at Bruker's state‑of‑the‑art facility in Camarillo, CA—where we turn raw material into packaged probes. We will showcase some exemplary probes at different levels of fabrication complexity:

  • Silicon probes, such as RTESP‑300 for tapping mode in air on hard materials.
  • Reflex-coated probes, such as SCANASYST‑FLUID for imaging biological samples in fluid.
  • Probes with an added tip‑side coating, such as SCM‑PIT‑V2 for electrical modes.
  • Sharpened silicon-tip probes, such as SAA‑HPI‑SS for ultrahigh‑resolution imaging.
  • High aspect ratio probes using alternate tip processing methods, such as FIB2‑100A for depth metrology.
  • Probes with defined shapes deposited using EBD, such as PFQNM‑LC‑V2 for mechanical testing.

By the end of the webinar, you will understand the probe manufacturing process and be equipped to make informed decisions for your applications. Whether experienced or new to AFM, this session will offer valuable insights and practical knowledge to enhance your use of AFM probes.

Presenter: Ian Armstrong (Ph.D., Senior Manager AFM Probes, Bruker)

Ian Armstrong has worked at Bruker for over 16 years in various roles from applications to product management. He is currently senior manager of Bruker's AFM probes business unit.

Bruker
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Analysis of rare earth elements in clay using XRF and XRD

Aplikace
| 2026 | Thermo Fisher Scientific
Instrumentace
XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Measurement of TOC in Chloroisocyanuric Acid Used as Disinfectant

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Heavy Metals in Baby FoodUsing ICP-MS

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.