ICPMS webináře se zaměřením na X-ray - strana 8

Úloha rastrovacího elektronového mikroskopu vybaveného fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM) v jedinečné kombinaci s kompaktním hmotnostním spektrometrem sekundárních iontů s dobou letu (ToF-SIMS).

Jak může 3D rentgenová mikroskopie ve spojení s rekonstrukčními technologiemi založenými na umělé inteligenci pomoci překonat tyto výzvy při zobrazování a simulaci procesů v bateriích a palivových článcích.

Seznamte se s některými nejnovějšími analytickými technikami, které nám pomáhají porozumět vzniku vesmíru, a s tím, jak nejlépe studovat vzorky z návratových misí.

Energeticky disperzní rentgenová spektroskopie (EDS) ve spojení s dalšími charakterizačními technikami.

Zjistěte, jak XPS přispívá k inovačním řešením pro udržitelnost.

Využitelnost XAS a to, jak nově vyvinuté laboratorní přístroje umožňují její praktické využití jako každodenního nástroje pro charakterizaci materiálů.

Seznamte se s jednotlivými technologiemi, jejich možnostmi a omezeními.

Zapojte se do 75minutové diskuse odborníků, kteří se ponoří do fascinujícího světa baterií a zjistí, jak společnost Bruker utváří jeho budoucnost.

Porozumět základním principům instrumentace XPS.

Nejnovější nařízení, jeho důsledky a snadná řešení pro testování, abyste zůstali v souladu s předpisy a vyhnuli se případným donucovacím opatřením.