<h4><strong>Hloubkové profilování XPS pro tenké vrstvy, povlaky a vícevrstvé struktury</strong></h4><p><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/products/2206"><strong>Systém pro analýzu povrchů Hypulse </strong></a>od společnosti Thermo Scientific doplňuje tradiční metody využívající iontový paprsek o technologii femtosekundové laserové ablace (fs-LA) a nabízí špičkové možnosti hloubkového profilování pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) pro tenké vrstvy, povlaky a vícevrstvé struktury.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_2_5834bc6da0.jpg" alt="Thermo Fisher Scientific: Hypulse Surface Analysis System" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_2_5834bc6da0.jpg 245w," sizes="100vw" width="650" height="338"></p><p>Hloubkové profilování fs-LA XPS umožňuje ještě přesnější, efektivnější a flexibilnější analýzu od povrchu až po hluboká rozhraní ve vzorku. To pomáhá optimalizovat výrobní procesy a vlastnosti technologicky významných materiálů a zařízení, vyvíjet nové multifunkční materiály a lépe porozumět příčinám selhání materiálů.</p><h4><strong>Objevte nové možnosti materiálové analýzy s fs-LA XPS</strong></h4><p>Fs-LA XPS poskytuje přesnou a spolehlivou analýzu povrchů a rozhraní bez rizika chemického poškození vzorku. Díky této pokročilé technice můžete rychle, efektivně a přesně analyzovat technologicky významné materiály a zařízení a získat hlubší poznatky o jejich struktuře.</p><p>Systém Hypulse je navržen s důrazem na přesnost a umožňuje studovat komplexní vrstvy různých materiálů při zachování jejich chemického složení během analýzy. Ať už pracujete v oblasti elektroniky, metalurgie nebo povrchových úprav, systém Hypulse poskytuje rychlou, detailní a přesnou analýzu.</p><blockquote><p>Více se dozvíte v brožuře "<a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/exploring_surface_depth_xps_analysis_a5a921a258.pdf"><strong>Exploring the surface in depth with XPS analysis</strong></a>"</p></blockquote><h4><strong>Revoluce v hloubkovém profilování pomocí XPS pro výzkum materiálů</strong></h4><p>Přesná a efektivní chemická analýza je zásadní pro výzkumné laboratoře v oblasti materiálových věd, pro akademické instituce i průmyslová odvětví, jako je výroba polovodičů, polymerní inženýrství, vývoj povlaků nebo vývoj nových multifunkčních materiálů.</p><p>Tradiční metody hloubkového profilování XPS založené na paprsku iontů mohou u některých materiálů vést k nepřesným výsledkům, které neodpovídají skutečnému složení vzorku.</p><blockquote><p>Podívejte se na záznam webináře "<a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/5645"><strong>Explore damage-free XPS depth profiling with the Hypulse Surface Analysis System</strong></a>"</p></blockquote><h4><strong>Výhody systému Hypulse Surface Analysis</strong></h4><h5><strong>Vyšší přesnost analýz</strong></h5><p>Díky kombinaci leptání jednoatomovým iontovým paprskem, leptání klastrovým iontovým paprskem a hloubkového profilování fs-LA dokáže systém Hypulse poskytovat přesné výsledky u širšího spektra materiálů, než bylo dosud možné.</p><h5><strong>Zvýšení produktivity</strong></h5><p>Hloubkové profilování umožňuje provést více hloubkových profilů ve stejném čase, který je potřeba pro analýzu jednoho vzorku pomocí iontového leptání.</p><h5><strong>Komplexnější porozumění materiálům&nbsp;</strong></h5><p>Systém Hypulse vám pomůže měřit hloubkové profily, které sahají do vzorku hlouběji než 10 μm. Vrstvy uložené hluboko ve vzorku, jejichž analýza by byla časově náročná, lze pomocí fs-laserové ablace snadno zpřístupnit.</p><h5><strong>Optimalizace pro různé typy materiálů</strong></h5><p>Namísto volby mezi různými typy iontů lze parametry laseru přizpůsobit konkrétnímu materiálu, což usnadňuje analýzu složitých kompozitních vzorků.</p><h4><strong>Klíčové vlastnosti systému Hypulse</strong></h4><h5><strong>Integrovaný fs-laserový ablační systém</strong></h5><p>Systém je postaven na plně integrovaném femtosekundovém laseru o vlnové délce 1030 nm a vysoce kvalitní optice. Laser je zaostřen na místo analýzy a jeho výkon lze řídit pomocí <strong>softwaru Thermo Scientific Avantage Software</strong>. Přístroj je klasifikován jako laser třídy 1, takže nevyžaduje speciální bezpečnostní opatření.</p><h5><strong>Iontový zdroj MAGCIS</strong></h5><p>Součástí systému je standardně duální iontový zdroj (<strong>Thermo Scientific MAGCIS Dual Beam Ion Source</strong>). Automatická optimalizace zdroje a řízení plynů zajišťují vysoký výkon a reprodukovatelnost experimentů.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_1_74f35f9481.jpg" alt="Pragolab: Iontový zdroj MAGCIS" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_1_74f35f9481.jpg 245w," sizes="100vw" width="1024" height="576"></p><h5><strong>Vysoce výkonná povrchová analýza</strong></h5><p>Hypulse je vysoce výkonný XPS systém a zahrnuje i další analytické techniky, jako jsou REELS a ISS, které umožňují získat maximum informací ze vzorku.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_6_fc0bd9c61c.jpg" alt="Pragolab: Vysoce výkonná povrchová analýza" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_6_fc0bd9c61c.jpg 245w," sizes="100vw" width="1024" height="576"></p><h5><strong>Analýza izolantů pomocí XPS</strong></h5><p>Patentovaný zdroj s dvojitým paprskem kombinuje iontové paprsky s nízkou energií s elektrony o velmi nízké energii (méně než 1 eV), čímž zabraňuje nabíjení vzorku během analýzy. Odpadá tak nutnost kalibrace náboje a analýza izolantů je jednodušší a spolehlivější.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_3_c6019a92eb.jpg" alt="Pragolab: Analýza izolantů pomocí XPS" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_3_c6019a92eb.jpg 245w," sizes="100vw" width="1024" height="576"></p><h5><strong>Volitelné držáky vzorků</strong></h5><p>Systém lze rozšířit o specializované držáky pro úhlově rozlišené XPS, měření předpětí vzorku, ohřev vzorků nebo přenos v inertní atmosféře z „gloveboxu“.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_5_6e5ccfdbed.jpg" alt="Pragolab: Volitelné držáky vzorků" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_5_6e5ccfdbed.jpg 245w," sizes="100vw" width="1024" height="576"></p><h5><strong>Software Avantage</strong></h5><p>Řízení přístroje, zpracování dat i reporting probíhají v softwaru Avantage. Součástí je modul Knowledge View s návody a referenčními materiály, které uživatele provádějí analýzou.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Pragolab_Software_Avantage_b47bc0d43e.jpg" alt="Pragolab: Software Avantage" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Pragolab_Software_Avantage_b47bc0d43e.jpg 245w," sizes="100vw" width="1024" height="576"></p><h5><strong>Pracovní postup korelačního XPS zobrazování a povrchové analýzy</strong></h5><p>Propojte data z XPS se snímky z SEM pomocí pracovního postupu korelačního zobrazování a povrchové analýzy (CISA) s využitím softwaru Thermo Scientific Maps.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Pragolab_Software_Maps_fa220e310c.jpg" alt="Pragolab: Software Maps" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Pragolab_Software_Maps_fa220e310c.jpg 245w," sizes="100vw" width="1024" height="576"></p><h4><strong>Technické specifikace</strong></h4><ul><li><strong>Typ analyzátoru:</strong> 180°, dvojitě fokusující hemisférický analyzátor se 128kanálovým detektorem</li><li><strong>Zdroj rentgenového záření:</strong> Monochromatický, mikro-fokusovaný, nízkovýkonový Al Kα zdroj</li><li><strong>Velikost rentgenového svazku:</strong> 10 až 400 μm (nastavitelná v krocích po 5 μm)</li><li><strong>Laserový ablační systém</strong><ul><li>Plně integrovaný femtosekundový laser (fs) s vlnovou délkou 1030 nm</li><li>Nastavitelná energie pulzu až do 1 mJ&nbsp;</li><li>Počítačem řízené tlumení pro zajištění optimálních podmínek ablace&nbsp;</li><li>Modul pro zobrazování svazku pro kalibraci a zarovnání systému</li></ul></li><li><strong>Hloubkové profilování ionty:</strong> Duální iontový zdroj MAGCIS</li><li><strong>Další zahrnuté analytické metody&nbsp;</strong><ul><li>Bipolární napájení analyzátoru a přívod helia pro iontovou rozptylovou spektroskopii (ISS)&nbsp;</li><li>Vysokonapěťové rozšíření pro elektronový flood zdroj&nbsp;</li><li>REELS (spektroskopie ztrát energie odražených elektronů)</li></ul></li><li><strong>Maximální plocha vzorku: </strong>60 × 60 mm</li><li><strong>Maximální tloušťka vzorku:</strong> 20 mm</li><li><strong>Vakuový systém: </strong>Dvě turbomolekulární vývěvy s automatickou titanovou sublimační vývěvou a podpůrnou předpumpou</li><li><strong>Volitelné příslušenství&nbsp;</strong><ul><li>UV fotoelektronová spektroskopie (UPS)&nbsp;</li><li>Modul naklápění vzorku&nbsp;</li><li>NX modul pro ohřev vzorku&nbsp;</li><li>Modul pro měření předpětí vzorku&nbsp;</li><li>Modul pro vakuový transfer vzorků</li></ul></li></ul><h4><strong>Další literatura týkající se systému Hypulse</strong></h4><ul><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Hypulse_DS_0516_EN_05_2025_1998238_WEB_0e44628a5e.pdf"><strong>Hypulse Surface Analysis System</strong></a> | Brožury a specifikace | 2025</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/exploring_surface_depth_xps_analysis_a5a921a258.pdf"><strong>Exploring the surface in depth with XPS analysis</strong></a> | Brožury a specifikace | 2025</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/evolution_of_xps_depth_profiling_white_paper_4284e868bc.pdf"><strong>The evolution of XPS depth profiling</strong></a> | Ostatní | 2025</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/xps_depth_profiling_coated_nitrided_steel_appnote_d19841e6c9.pdf"><strong>XPS depth profiling of coated nitrided steel using femtosecond laser ablation</strong></a> | Aplikace | 2025</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/xps_depth_profiling_advanced_solar_cells_appnote_7bda4471a5.pdf"><strong>XPS depth profiling of advanced solar cells with femtosecond laser ablation</strong></a> | Aplikace | 2025</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/xps_depth_profiling_polymer_analysis_appnote_c731e2e7e0.pdf"><strong>Polymer analysis using femtosecond-laser-ablation depth profiling</strong></a> | Aplikace | 2025</li></ul>

Systém Hypulse pro analýzu povrchů

<p><strong>Zveme Vás na odborný dvoudenní seminář zaměřený na moderní analytické techniky v oblasti materiálového výzkumu a kontroly kvality. Ve dnech 19.–20. května 2026 v Brně představí zahraniční specialisté nejnovější trendy v analýze velikosti částic, sorpci plynů a par, elektronové mikroskopii, povrchových a mezifázových vlastnostech i prvkové a strukturní analýze materiálů.</strong></p><p>V šesti paralelních sekcích se můžete těšit na praktické ukázky, odborné přednášky a osobní konzultace s experty společností <strong>Malvern Panalytical, Thermo Fisher Scientific, AMI Instruments, DataPhysics Instruments</strong> a dalších partnerů.&nbsp;</p><blockquote><p class="cke-user_style-important"><strong>👉</strong><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://forms.office.com/Pages/ResponsePage.aspx?id=VI_lUr4e8029lPBE4CVKgJV6Il6EqfpMhmfEVorM0kpUOFZFT005TFlUUU1QSjdUVjQ0NjIyNUM4SSQlQCN0PWcu"><strong>Registrace na seminář ZDE</strong></a></p><ul><li><strong>Účast </strong>na semináři i doprovodném programu je <strong>zdarma</strong>, kapacita je omezená.&nbsp;</li><li><strong>Registrujte se nejpozději do 11.5.</strong></li><li><strong>Ubytování si hradí účastníci sami</strong>, při registraci v našem formuláři za výhodnější cenu – jednolůžko 2100 Kč, dvoulůžkový pokoj 2200 Kč.</li></ul></blockquote><h3><strong>Program</strong></h3><h4><strong>Úterý 19. 5. 2026, 09:30 - 17:30 hod.</strong></h4><h5><strong>9:30 Zahájení semináře&nbsp;</strong></h5><ul><li>Ing. Jiří Hrdlička a Ing. Michal Dudák, Ph.D. – ANAMET s.r.o.</li></ul><h5><strong>9:35 Představení produktů Malvern Panalytical&nbsp;</strong></h5><p>Úvod do technik používaných pro charakterizaci velikosti, koncentrace, zeta potenciálu, molekulové hmotnosti a tvaru částic.</p><p>Úvod do prvkového (XRF) a strukturního složení materiálů (XRD)&nbsp;</p><ul><li>Jaroslav Smejkal</li></ul><h5><strong>10:25 AMI Instruments&nbsp;</strong></h5><p>Úvod do sorpce plynů a par, charakterizace měrného povrchu, velikosti pórů, aktivního povrchu katalyzátorů a teplotně programovaných experimentů (TPx) a hustoty vzorků&nbsp;</p><ul><li>Stephanie Bush</li></ul><h5><strong>10:50&nbsp;Dataphysics Instruments&nbsp;</strong></h5><p>Přehled technik pro charakterizaci povrchů – konturní analýza tvaru kapek a mezifázových vlastností kapalin a pevných látek, vysokoteplotní i vakuové speciální verze, tenziometry pro určení povrchového napětí, hustoty kapalin i pevných látek či smáčení pro kontrolu kvality různých lázní v průmyslu&nbsp;</p><ul><li>Sebastian Schaubach</li></ul><h5><strong>11:15 Phenom – úvod do stolních rastrovacích elektronových mikroskopů firmy Thermo Scientific a jejich filozofie&nbsp;</strong></h5><ul><li>Eduardo Sardinha</li></ul><h5><strong>11:40 FEI – představení ostatních elektronových mikroskopů firmy FEI (Thermo Scientific)&nbsp;</strong></h5><ul><li>Veronika Hegerová</li></ul><h5><strong>12:00 </strong>Oběd</h5><h5><strong>13:30 Rozdělení na sekce A/B/C/D/E/F&nbsp;</strong></h5><p>Přednášky proběhnou současně v šesti konferenčních sálech, káva bude podávána individuálně v každé sekci</p><h5><strong>17:00 – 17.30 Ukončení programu prvního dne</strong></h5><h5><strong>17:30 - ??? Společenský večer s vinnou degustací v sále hotelu</strong></h5><h4><strong>Středa 20. 5. 2026, 09:30 - 13:15 hod.</strong></h4><h5><strong>9:30&nbsp;Organizační pokyny 2. dne v hlavním konferenčním sále</strong></h5><ul><li>ANAMET s.r.o.</li></ul><h5><strong>9:45&nbsp;Rozdělení do sekcí a pokračování programu v sekcích – viz dále</strong></h5><h5><strong>10:45 </strong>Kávová přestávka</h5><h5><strong>11:45&nbsp;Konec programu v sekcích – přesun do hlavního sálu</strong></h5><h5><strong>12:00&nbsp;V hlavním sále: Diskuze, tombola a ukončení semináře</strong></h5><h5><strong>12:30&nbsp;Oběd pro ty, kteří projevili zájem o osobní schůzky</strong></h5><h5><strong>13:15&nbsp;Osobní schůzky s přednášejícími či zaměstnanci ANAMETu (pořadí sdělíme během oběda)</strong></h5><h3><strong>Program sekcí:</strong></h3><h4><strong>Sekce A – Laserová difrakce Mastersizer&nbsp;</strong></h4><ul><li>Jenny Burt</li><li><strong>Demopřístroj: </strong>Mastersizer 3000+</li></ul><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Mastersizer_3000_Ultra_43d1fc2f5d.webp" alt="ANAMET: Mastersizer 3000+ Ultra" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Mastersizer_3000_Ultra_43d1fc2f5d.webp 234w," sizes="100vw" width="526" height="351"></p><h5><strong>První den</strong></h5><ul><li><strong>Představení Mastersizer 3000+</strong>, který přináší upgrade stávající verze s novými vylepšenými funkcemi, stabilitou měření a softwarový upgrade pro ještě snažší ovládání a interakci přístroje s uživatelem, vývoj standardních operačních postupů (SOP) pomocí funkce SOP architect, kvalita naměřených hodnot.</li><li>Základní úvod do laserové granulometrie</li><li>Pokročilá analýza velikosti částic a docílení kvalitních dat – jak používat softwarové funkce určené k ověření kvality naměřených dat</li><li>Dispergační jednotky, suchá dispergace, mokrá dispergace, tvarová analýza s modulem HydroInsight</li><li>Kvalita naměřených dat</li></ul><h5><strong>Druhý den</strong></h5><ul><li><strong>Vývoj metod </strong>(Harmonizace technických požadavků na humánní léčiva (ICH), European Pharmacopoeia, ISO 13320:2020 (Analýza PSD, Metody laserové difrakce)</li><li><strong>Audit trial OmniTrust </strong>/ Part 11 compliance pro farmaceutický průmysl</li></ul><h4><strong>Sekce B – Dynamický a elektroforetický rozptyl světla (DLS a ELS) Zetasizer</strong></h4><ul><li>Mike Kaszuba</li><li><strong>Demopřístroje:</strong> Zetasizer Advance range (Ultra Red)</li></ul><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Zetasizer_Ultra_8c91e6fde8.webp" alt="Malvern Panalytical: Zetasizer Advance Ultra" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Zetasizer_Ultra_8c91e6fde8.webp 234w," sizes="100vw" width="2176" height="1450"></p><ul><li>Úvod do principů technik pro stanovení velikosti nanočástic (DLS a NTA)</li><li>Pokročilé funkce řady Advance:<ul><li>Adaptivní korelace,</li><li>Víceúhlový dynamický rozptyl světla (MADLS)</li><li>Stanovení koncentrace</li><li>Systém hodnocení kvality dat</li><li>Otočný držák filtrů – depolarizované DLS a fluorescenční vzorky</li></ul></li><li>Jak zvýšit kvalitu naměřených dat – Řešení běžných problémů se Zetasizerem</li><li>Principy ELS a stanovení zeta potenciálu, vylepšení v podobě měření při konstantním proudu, zeta potenciál povrchů a měření mobility bílkovin</li><li>Stanovení molekulové hmotnosti</li><li>Smart Instrument pro vzdálenou diagnostiku i systém preventivního varování před poruchou</li><li>Vývoj metodiky měření DLS a ELS</li></ul><h4><strong>Sekce C – Rentgenové přístroje XRD a XRF</strong></h4><ul><li><strong>Demopřístroje:</strong> stolní Aeris / Epsilon</li></ul><h5><strong>První den</strong></h5><ul><li>WD XRF – princip</li><li>Zetium – komponenty, konstrukce systému, vkládání vzorků, ED+SSM</li><li>WD XRF aplikace, WROXI moduly, další aplikace</li><li>Empyrean – multifunkční XRD</li><li>MultiCore Optics</li><li>SAXS, tenké vrstvy, napětí, textury, vysoké rozlišení (HR)</li><li>XAS</li><li>Příprava vzorku tavením</li><li>Nejčastější problémy</li></ul><h5><strong>Druhý den</strong></h5><ul><li>Aeris – kompaktní XRD, popis, detektory</li><li>Aeris v akademickém prostředí – transmisní měření, tenké vrstvy, mikrodifrakce</li><li>Aeris v průmyslu – cement, těžební průmysl, baterie, další aplikace</li><li>ED XRF – princip</li><li>Epsilon 1 &amp; 4, Revontium</li><li>Vybrané aplikační příklady ED XRF</li></ul><h4><strong>Sekce D – stolní elektronové mikroskopy řady Phenom (Thermo Scientific)</strong></h4><ul><li><strong>Demopřístroje: </strong>Phenom ProX, Phenom XL a Phenom ParticleX s příslušenstvím a SW</li></ul><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Phenom_XL_a887237671.jpg" alt="ANAMET: Phenom XL" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Phenom_XL_a887237671.jpg 215w," sizes="100vw" width="1056" height="768"></p><h5><strong>První den</strong></h5><ul><li>O elektronových mikroskopech – konstrukce a v čem je Phenom výjimečný</li><li>Nejvhodnější využití dat z jednotlivých detektorů</li><li>Základy i pokročilé metody vyhodnocení prvkového složení z EDS detektoru</li></ul><h5><strong>Druhý den</strong></h5><ul><li>Automatizace měření, vyhodnocení i reportování dat – ideální řešení pro kontrolu kvality v průmyslu</li><li>Držáky vzorků, další příslušenství a aplikace</li><li>Praktická měření a analýzy vámi donesených vzorků</li></ul><h4><strong>Sekce E – AMI Instruments – fyzisorpce, chemisorpce&nbsp;</strong></h4><ul><li><strong>Demopřístroje:</strong> AMI DensiPyc 1000 – <strong>nový heliový pyknometr bude v provozu</strong></li></ul><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/AMI_Densi_Pyc_1000_9a5da38e3b.webp" alt="AMI Instruments: AMI DensiPyc 1000" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_AMI_Densi_Pyc_1000_9a5da38e3b.webp 156w," sizes="100vw" width="600" height="600"></p><h5><strong>První den</strong></h5><ul><li>Novinky ve fyzisorpční charakterizaci porézních materiálů – <strong>představení nového mikroporézního analyzátoru AMI Matrix 1000</strong></li><li>Stanovení měrného povrchu (BET) a distribuce velikosti pórů – základy i doporučené postupy</li><li>Chemisorpční techniky charakterizace katalyzátorů a řada AMI-400.</li></ul><h5><strong>Druhý den</strong></h5><ul><li>Speciální techniky adsorpce – stanovení průrazových křivek adsorpčních kolon pomocí přístroje BT sorb – současná sorpce par a plynů</li><li>Gravimetrické techniky adsorpce s magnetickou spojkou pro dynamickou sorpci vodní páry i extrémně vysokotlaké i korozivní podmínky</li></ul><h4><strong>Sekce F – Povrchové a mezifázové analyzátory Dataphysics Instruments&nbsp;</strong></h4><ul><li><strong>Demopřístroje: </strong>OCA 15 EC, PCA 200, Multiscan MS 20, DCAT 9, ZPA 20</li></ul><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/PCA_200_49e2abf1b0.jpg" alt="ANAMET: PCA 200" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_PCA_200_49e2abf1b0.jpg 187w," sizes="100vw" width="600" height="500"></p><h5><strong>První den&nbsp;</strong></h5><ul><li>Představíme přístrojové řady OCA pro konturní analýzu a tenziometry DCAT s <strong>novým přenosným přístrojem pro měření kontaktních úhlů PCA 200.</strong></li></ul><h5><strong>Druhý den</strong></h5><ul><li>Analyzátor stability disperzí Multiscan MS 20 a analyzátor proudového a zeta potenciálu pevných povrchů ZPA 20.</li><li>Měření na ukázkových i donesených vzorcích.</li></ul><blockquote><p><strong>Důležité:</strong> &nbsp;Dotazy pište na <strong>hovorkova@anamet.cz,</strong> případně vám budou zodpovězeny na čísle <strong>257 328 175</strong> anebo <strong>606 704 988</strong>.</p></blockquote>

Pozvánka na dvoudenní seminář o materiálové charakterizaci a elektronové mikroskopii

<section><div><div><div><div><div><div><p><strong>Společnost Wiley, globální lídr v oblasti odborného obsahu a výzkumné inteligence podporující vědecké objevy, inovace a vzdělávání, dnes oznámila vydání nových dat pro své spektrální knihovny IR a Raman, čímž výrazně rozšiřuje pokrytí sloučenin, včetně materiálů, polymerů, minerálů a dalších.</strong></p><p>Tato nejnovější aktualizace zahrnuje první sadu Ramanových spekter vzniklou v rámci spolupráce společnosti Wiley s <span><strong>American Museum of Natural History</strong></span> (AMNH), oznámené na jaře tohoto roku. Data vycházejí z jedné z nejvýznamnějších světových sbírek minerálů.</p><p>„<i>Výzkumníci spoléhají na referenční data jako na základ správných vědeckých rozhodnutí</i>,“ uvedl <span>Graeme Whitley</span>, senior director pro data science solutions ve společnosti <span>Wiley</span>. „<i>Pravidelné aktualizace zajišťují, že mají vědci vždy k dispozici nejaktuálnější a nejspolehlivější referenční knihovny, což jim pomáhá pracovat rychleji a činit sebevědomá rozhodnutí v klíčových okamžicích.</i>“</p><h3><span><strong>Přehled aktualizací</strong></span></h3><h4><span><strong>KnowItAll Raman Spectral Library Collection</strong></span></h4><ul><li><strong>Přidáno: </strong>1 213 spekter</li><li><strong>Celkem nyní:</strong> více než 29 000 spekter</li></ul><h5><strong>2 nové databáze:</strong></h5><ul><li>Raman – American Museum of Natural History Minerals – Wiley – 198 spekter</li><li>Raman – Microbiology – 71 spekter</li></ul><h5><strong>Přidaná spektra do databází:</strong></h5><ul><li>Raman – Consumer Goods &amp; Food-Related Compounds – +104</li><li>Raman – Drugs – +128</li><li>Raman – Materials – +132</li><li>Raman – Minerals – +233</li><li>Raman – Polymers – +5</li><li>Raman – Pigments &amp; Dyes – +342</li></ul><h4><span><strong>KnowItAll IR Spectral Library Collection</strong></span></h4><ul><li><strong>Přidáno: </strong>949 spekter</li><li><strong>Celkem nyní</strong>: více než 344 000 spekter</li></ul><h5><strong>7 nových databází:</strong></h5><ul><li>ATR-IR – Clinical – 364 spekter</li><li>ATR-IR – Materials – 10 spekter</li><li>ATR-IR – Pigments &amp; Dyes – 420 spekter</li><li>ATR-IR – Polymers – 21 spekter</li><li>IR – Clinical – 20 spekter</li><li>IR – Materials – 17 spekter</li><li>IR – Microbiology – 75 spekter</li></ul><h5><strong>Přidaná spektra do databází:</strong></h5><ul><li>IR – Minerals – +5</li><li>IR – Polymers – +17</li></ul><p>Předplatitelé spektrálních knihoven získávají automaticky přístup k novým datům, což zajišťuje, že laboratoře mají vždy k dispozici nejaktuálnější a nejspolehlivější referenční knihovny pro zlepšení analýzy, snížení chybovosti a zvýšení produktivity.</p><ul><li>Více informací: <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="http://www.sciencesolutions.wiley.com/spectral-databases">www.sciencesolutions.wiley.com/spectral-databases<span><svg><use></use></svg></span></a></li><li>Stávající uživatelé naleznou podrobný návod k aktualizaci databází KnowItAll zde: <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://sciencesolutions.wiley.com/how-to-update-knowitall-databases">https://sciencesolutions.wiley.com/how-to-update-knowitall-databases<span><svg><use></use></svg></span></a></li></ul><h4><span><strong>Spektrální databáze Wiley</strong></span></h4><p>Spektrální databáze společnosti Wiley se neustále vyvíjejí, aby odpovídaly současným požadavkům výzkumu. Pokrývají široké spektrum spektrálních technik a aplikací, včetně polymerů, materiálů, environmentální analýzy, forenzních věd, toxikologie, farmacie, biotechnologií, automobilového a leteckého průmyslu, potravinářství, kosmetiky a dalších.</p><p>Na základě přísných kvalitativních standardů poskytuje Wiley špičková spektrální data a inteligentní nástroje, které urychlují analýzu a umožňují hlubší porozumění – čímž se stává důvěryhodným a autoritativním zdrojem pro analytické laboratoře po celém světě.</p><h4><span><strong>O společnosti Wiley</strong></span></h4><p>Společnost <span>Wiley</span> (NYSE: WLY) je globálním lídrem v oblasti odborného obsahu a výzkumné inteligence podporující vědecké objevy, inovace a vzdělávání. S více než 200letou historií v centru akademického ekosystému kombinuje Wiley důvěryhodnou publikační tradici s platformami využívajícími umělou inteligenci, které mění způsob, jakým jsou znalosti objevovány, zpřístupňovány a aplikovány.</p><p>Od jednotlivých výzkumníků a studentů až po výzkumné týmy společností Fortune 500 umožňuje Wiley transformaci vědeckých objevů do reálného dopadu. Od znalostí k dopadu – Wiley redefinuje možnosti vědy a vzdělávání.</p></div></div></div></div></div></div></section>

Wiley rozšiřuje své IR a Ramanovy spektrální knihovny

Video

Software

Článek

Produkt

Nejbližší akce

Již více než 200 let pomáháme lidem a organizacím rozvíjet dovednosti a znalosti, které potřebují k úspěchu.
Vyvíjíme řešení digitálního vzdělávání, učení, hodnocení a certifikace, abychom pomohli univerzitám, podnikům a jednotlivcům přejít mezi vzděláváním a zaměstnáním a dosáhnout jejich ambicí. 

Wiley

Firma ANAMET s.r.o. nabízí přístrojové vybavení pro laboratoře, výzkumná pracoviště i pro měření v provozu. Na český a slovenský trh dodáváme špičkové přístroje zahraničních firem (zastupujeme více než 30 firem). Pro veškerou dodávanou techniku zajišťujeme řešení na míru, záruční a pozáruční servis včetně dodávek náhradních dílů a spotřebního materiálu.

ANAMET

Jsme jedním z lídrů na českém a slovenském trhu v oblasti laboratorních zařízení a svým zákazníkům přinášíme špičkové přístroje z oboru analytické chemie a fyzikálních měření více než 25 let.

Pragolab

Agilent Technologies

AZoM

Milestone

Bruker

Thermo Fisher Scientific

C&EN

<h4><strong>Food &amp; Feed Sample Preparation Webinar Series</strong></h4><p><strong>Ensuring food and feed quality requires reliable determination of both contaminants and nutrients, yet sample preparation remains one of the most challenging and time-consuming steps in the analytical workflow. This webinar series introduces modern approaches to digestion and extraction that improve data quality, reduce reprocessing, and increase laboratory productivity. Through four dedicated events, covering heavy metals, organic contaminants, macro/trace minerals, and nutritional parameters such as fats, FAMEs, and amino acids, participants will discover optimized, practical workflows tailored to real-world food and feed testing.</strong></p><h4><strong>Session: Heavy Metals in Food: Digestion Strategies and Complete Sample Prep Workflow</strong></h4><p>Heavy metals such as Pb, Cd, As, and Hg are strictly regulated in food and feed, requiring robust digestion and a well-controlled sample preparation workflow. This webinar covers best practices for microwave digestion of diverse food matrices using systems such as ETHOS and ultraWAVE 2 eco. A case study on baby food will illustrate common challenges such as matrix complexity, contamination control, and blank management. Participants will learn how to build a reliable sample-to-analysis workflow that ensures accuracy, reduces re-runs, and supports regulatory compliance.</p><blockquote><p><strong>Speaker:</strong> Giulio Colnaghi (Marketing Manager, Milestone Srl)</p></blockquote>

Milestone: Food & Feed Sample Preparation Webinar Series

Heavy Metals in Food: Digestion Strategies and Complete Sample Prep Workflow

This webinar covers best practices for microwave digestion of diverse food matrices using systems such as ETHOS and ultraWAVE 2 eco. 

Digestion Strategies and Complete Sample Prep Workflow

<p><strong>This workshop will review the different substrates used for microplastics analysis and will focus on best practices for sample measurement and sotware functions in Clarity software for the analysis of microplastics.</strong></p><blockquote><p><strong>Presenter:&nbsp;</strong> Louis Tisinger, PhD (Application Engineer, Molecular Spectroscopy, Agilent Technologies, Inc.)</p><p>Louis (Lou) Tisinger has a Ph.D. in Analytical Chemistry from Miami University in Oxford Ohio, where his graduate research involved the study of ATR imaging and microscope performance in vibrational spectroscopy. Most of his career has been related to pre- and post-sales support of FTIR spectrometers, microscopes, imaging systems, and thermal analytical instruments, focusing on analyzing customer samples, demonstrations, post-sales training, troubleshooting, and R&amp;D.</p></blockquote>

Agilent Technologies: Molecular spectroscopy webinars

A Workshop on Substrates and Software tools for Microplastics Analysis using the LDIR

This workshop will review the different substrates used for microplastics analysis and will focus on best practices for sample measurement and sotware functions

Software tools for Microplastics Analysis using LDIR

<p><strong>Direct Lithium Extraction (DLE) selectively recovers lithium from underground brines, producing high-purity lithium salts for batteries. Accurate analysis of major and trace elements is essential for quality control, but high dissolved solids and wide analyte ranges make lithium brines challenging to analyze. In this seminar, an Agilent 5900 ICP-OES with the Advanced Dilution System 2 (ADS 2) quantified key elements in different brine samples from DLE (raw, tail and lithium concentrate). The method demonstrated excellent matrix tolerance, long-term stability, and reliable elemental profiling, supporting robust quality control throughout the DLE workflow.</strong></p><blockquote><p><strong>Presenter:</strong> Ana García González (Atomic Spectroscopy Application Scientist, Agilent Technologies)</p><p>Ana Garcia is the Atomic Spectroscopy Application Scientist at Agilent Technologies. Ana has a broad background in atomic spectroscopy technologies, including international experience developing and validating analytical spectroscopy methods for the geochemical industry. She has also published in the fields of molecular spectroscopy and chemometrics. Ana holds a MSc in plant Biotechnology at CINVESTAV, México, and a Bachelor of Science in Biotechnology Engineering.</p></blockquote>

Agilent Technologies: Atomic Spectroscopic webinars

High-Throughput ICP-OES Analysis of Elements in Brines from Direct Lithium Extraction

Learn how ICP-OES and advanced dilution improve elemental analysis of lithium brines in Direct Lithium Extraction for reliable quality control.

ICP-OES Analysis of Elements in Brines

<p><strong>Microplastics are increasingly detected across the environment and even within the human body, raising urgent questions about their sources, exposure pathways, and health implications.</strong></p><p>In this webinar, we will explore complementary analytical solutions for comprehensive microplastics characterization.</p><p>Discover how<strong> FTIR and Raman spectroscopy</strong> enable reliable particle identification and imaging—covering sizes from millimeters down to a few microns—while high-resolution mass spectrometry techniques such as pyrolysis <strong>GC-HRMS and LC-based workflows</strong> provide sensitive detection and quantification of polymers and plastic-related chemicals in complex environmental and biological matrices.</p><p>From particle-level identification to advanced chemical fingerprinting and exposure assessment, learn how Thermo Fisher Scientific technologies support micro- and nanoplastics analysis across research, environmental monitoring, and human biomonitoring applications.</p><blockquote><p><strong>Speaker: </strong>Dr. Kuanliang Shao (Postdoctoral Fellow, Department of Environmental Health Comprehensive Laboratory for Untargeted Exposome Science | Emory University) will share how Py-GC-HRMS is enabling population-level biomonitoring of MNPs in human tissues and its integration into exposomics frameworks.</p><p><strong>Speaker:&nbsp;</strong>Dr. Wang Rui (Business Development Manager, Chemical Analysis | Thermo Fisher Scientific) will provide an overview of FTIR and Raman spectroscopy solutions for microplastics identification, highlighting how technologies ranging from point-and-shoot systems to advanced imaging platforms enable reliable analysis across diverse environmental samples and particle sizes, from millimeters down to a few microns.</p></blockquote>

Thermo Fisher Scientific: Uncovering Microplastics: Identification, Quantification, and Exposure Assessment

Uncovering Microplastics: Identification, Quantification, and Exposure Assessment

In this webinar, we will explore complementary analytical solutions for comprehensive microplastics characterization.

Microplastics Identification, Quantification

<p><strong>Organic contamination presents a persistent challenge across industries, particularly when particles are small, embedded, or difficult to isolate. This webinar introduces a combined focused ion beam–scanning electron microscopy (FIB-SEM) and FTIR microscopy workflow designed to support precise isolation and reliable identification of organic contaminants. By integrating targeted sample extraction with molecular analysis, this approach enables more complete characterization of foreign materials that may be missed using a single technique.</strong></p><p>Attendees will see how this workflow can support failure analysis and foreign material identification, with application examples relevant to pharmaceutical manufacturing where rapid, accurate identification is critical for product quality, safety, and regulatory compliance.</p><h4><strong>In This Webinar, You Will Learn:&nbsp;</strong></h4><ul><li>Fundamentals of FIB-SEM and FTIR microscopy and how they complement each other</li><li>A practical workflow for isolating and identifying organic microparticles</li><li>Techniques for FIB extraction, including milling and lift-out of targeted regions</li><li>Approaches to FTIR microscopy for analyzing small or embedded particles</li><li>Application insights for pharmaceutical contamination analysis and failure investigations&nbsp;</li></ul><h4><strong>This Webinar is Ideal For:</strong>&nbsp;</h4><ul><li>Failure analysis scientists and engineers</li><li>QA/QC and quality assurance professionals</li><li>Pharmaceutical R&amp;D and manufacturing scientists</li><li>Analytical scientists working in materials characterization or contamination analysis</li><li>Academic and applied researchers (e.g., microplastics, materials science, life sciences)&nbsp;</li></ul><blockquote><p><strong>Speaker: </strong>Matt Joens (Senior Sales Development Representative, Thermo Fisher Scientific)</p><p>Matt Joens is an electron microscopist who has dedicated his career to the advancement of 3D and correlative imaging methodologies. He also has a passion for biological sample preparation, especially in the world of cryo preservation and the production of frozen lamella for high resolution TEM analysis. A chemist by training, Matt has worked at the Salk Institute, Washington University, Apple Inc, and TESCAN, spanning both life science and materials science disciplines. This duality has given him the unique perspective on what modern tools are capable of, and he now dedicates his time to help scientists find the right solutions for their research.</p><p><strong>Speaker: </strong>Jaspreet Singh, Phd (Senior Applications Scientist, Molecular Spectroscopy, Thermo Fisher Scientific)</p><p>Jaspreet Singh earned his B.S. in Chemistry from the University of California, Merced in 2012 and his Ph.D. from the University of Oklahoma in 2021. Jaspreet’s graduate research work focused on variable temperature infrared spectroscopy studies of materials and development of FTIR sampling methods. Jaspreet is currently a Senior Application Scientist for the Nicolet FTIR spectroscopy product line at Thermo Fisher Scientific and operates an applications lab in San Jose, CA.</p></blockquote>

AZOM: Organic Contamination Analysis: A FIB-FTIR Workflow

Organic Contamination Analysis: A FIB-FTIR Workflow

Fundamentals of FIB-SEM and FTIR microscopy and how they complement each other

<h4><strong>Achieving accurate results without calibration standards – A Thermo Fisher Scientific &amp; FLUXANA joint Webinar</strong></h4><p><strong>Accurate and flexible XRF quantification requires a solid theoretical foundation, robust instrumentation, and appropriate sample preparation. In this joint webinar hosted by FLUXANA® GmbH &amp; Co., Thermo Fisher Scientific introduces the principles behind UniQuant software’s standardless quantification and demonstrates how these are implemented on modern XRF instrumentation to deliver reliable results across a wide range of applications.</strong></p><p>Through practical application examples, the session highlights the accuracy and versatility of UniQuant software, while also addressing the critical influence of sample preparation on analytical performance. Drawing on FLUXANA’s expertise in sample preparation solutions, the webinar shows how optimized preparation methods complement UniQuant-based XRF workflows. Suitable for both beginners and experienced XRF users, this webinar provides practical guidance for building robust, high-quality XRF analyses.</p><blockquote><p><strong>Speaker: </strong>Dr. Ling Schneider (Thermo Fisher Scientific™)</p><p><strong>Speaker: </strong>Dr. Rainer Schramm (FLUXANA® GmbH &amp; Co)</p><p><strong>Speaker: </strong>Lucie Longo (Thermo Fisher Scientific™)</p></blockquote>

Thermo Fisher Scientific: Unlocking standardless X-ray fluorescence analysis with Thermo Scientific™ UniQuant™ Software

Unlocking standardless X-ray fluorescence analysis with Thermo Scientific™ UniQuant™ Software

Discover standardless XRF quantification with UniQuant software, combining advanced instrumentation and sample prep for accurate, reliable results.

XRF analysis with Thermo Scientific UniQuant Software

<p><strong>Join our webinar to learn how Bruker AXS’s PHOTON IV X-ray detectors combine advanced active pixel sensor technology and innovative readout methods to deliver the precision needed for accurate diffraction data in modern crystallography research.</strong></p><p>Using real life examples, the webinar will introduce the technology behind the PHOTON IV X-ray detector and reveal the secrets enabling the PHOTON IV to measure highly accurate data from weakly diffracting samples including total scattering.</p><h4><strong>Who should attend?</strong></h4><ul><li>Crystallographers looking to implement the latest state-of -the-art technology into their X-ray facility</li><li>Anyone interested in the latest advances in X-ray detector technology</li></ul><h4><strong>Which topics will be covered?</strong></h4><ul><li>Trends in crystallography</li><li>Characteristics of an ideal SC-XRD X-ray detector</li><li>Photon counting detectors in SC-XRD past and future</li><li>The evolution of CMOS active pixel sensors&nbsp;</li><li>Photon counting in software and Interpixel Logic</li><li>The importance of quantum efficiency</li></ul><blockquote><p><strong>Speaker:&nbsp;</strong>Dr. Vernon Smith (SC-XRD Business Development Manager, Bruker AXS)</p></blockquote>

Bruker: PHOTON IV: Learn How Unique Detector Technology is Driving Modern Crystallography

PHOTON IV: Learn How Unique Detector Technology is Driving Modern Crystallography

Join our webinar to learn how Bruker AXS’s PHOTON IV X-ray detectors combine advanced active pixel sensor technology and innovative readout methods.

PHOTON IV Unique Detector Technology

<p><strong>Raman spectroscopy is a powerful and increasingly accessible tool for analyzing the chemical and structural properties of materials across a wide range of industries. It enables fast, non-destructive analysis with minimal sample preparation - making it well suited for both research and quality-focused environments.</strong></p><p>In this webinar, we will introduce the fundamentals of Raman spectroscopy and explore how modern Raman systems deliver research-grade chemical insights through intuitive workflows and advanced imaging capabilities. Attendees will learn how Raman spectroscopy and microscopy can be used to identify unknown materials, visualize chemical distributions, and accelerate decision-making.</p><p>We will also highlight key capabilities, such as confocal imaging, particle analysis, multilayer analysis and chemical mapping, that make the technique extremely valuable for product identification and testing across a wide range of applications. &nbsp;</p><p><i>Join the free webinar with certification of attendance now. &nbsp;</i></p><h4><strong>Join the Webinar to:</strong></h4><ul><li>Understand the basic principles of Raman spectroscopy, including its use as a complementary technique to FTIR spectroscopy</li><li>Learn how Raman enables rapid, non-destructive chemical identification with minimal sample prep</li><li>Explore applications across a range of materials and industries</li><li>See how Raman imaging and microscopy reveal spatial chemical information</li><li>Identify how modern Raman systems improve usability, workflow efficiency, and data confidence</li></ul><h4><strong>This Webinar is Ideal For:</strong></h4><ul><li>Materials scientists and analytical chemists</li><li>R&amp;D and quality control professionals</li><li>Process and product development teams</li><li>Users evaluating Raman or complementary analytical techniques</li></ul><blockquote><p><strong>Speaker: </strong>Sudhir Dahal, Ph.D. (Product Manager, Thermo Fisher Scientific)&nbsp;</p><p>Sudhir Dahal is the Product Manager for Research Raman Products at Thermo Fisher Scientific, where he focuses on bringing advanced Raman spectroscopy solutions to market for demanding pharmaceutical and industrial applications. &nbsp;With over a decade of experience in analytical instrumentation, Sudhir works closely with customers, application teams and R&amp;D to translate real-world QC challenges – such as biopharma fill-finish testing, data robustness and scalability – into practical, automation-ready solutions. &nbsp;He holds a Ph.D. from the University of Maryland, Baltimore County, where he developed spectroscopy-based methods for biomedical analysis. Sudhir is passionate about connecting technology, workflow, and market needs to enable smarter, data-driven quality control.</p></blockquote>

Thermo Fisher Scientific: Unlocking Material Insights with Raman Spectroscopy: From Fundamentals to Real-World Applications

Unlocking Material Insights with Raman Spectroscopy: From Fundamentals to Real-World Applications

Learn Raman spectroscopy fundamentals, imaging, and applications for fast, non-destructive material analysis and improved laboratory workflows.

Material Insights with Raman Spectroscopy

<p><strong>Global supply chain disruptions are forcing industrial laboratories to qualify new material suppliers faster than ever before—often with limited insight into subtle but critical differences in material composition. Even when materials meet nominal specifications, variations in additives, processing, and structure can introduce significant risk to product performance, quality, and reliability.</strong></p><p>This webinar explores how FTIR spectroscopy can help laboratories detect variability, validate materials with confidence, and reduce risk in supplier qualification. Through real-world example, attendees will learn how improved characterization supports better decision-making, faster time-to-production, and more resilient manufacturing processes.</p><h4><strong>Key Learning Objectives:</strong></h4><ul><li>Understand the analytical risks introduced by supplier changes and complex material systems.</li><li>Identify practical characterization strategies that improve confidence in material qualification decisions.</li><li>Recognize how analytical workflows support cost control, quality assurance, and faster time-to-production.</li></ul><h4><strong>Who Should Attend:</strong></h4><ul><li>QA/QC Managers and Scientists&nbsp;</li><li>Analytical Laboratory Managers&nbsp;</li><li>Materials Scientists and Engineers&nbsp;</li><li>R&amp;D and Product Development Leaders&nbsp;</li><li>Manufacturing and Process Engineers</li></ul><blockquote><p><strong>Speaker: </strong>Lena Woodis, PhD (Product Manager, Thermo Fisher Scientific)</p><p><strong>Speaker: </strong>Alexandra Taylor (Contributing Editor, C&amp;EN Media Group)</p></blockquote>

Thermo Fisher Scientific: Smarter Materials Qualification in a Changing Supply Chain

Smarter Materials Qualification in a Changing Supply Chain

Webinar explores how FTIR spectroscopy can help laboratories detect variability, validate materials with confidence, and reduce risk in supplier qualification.

<p><strong>The Indian pharmaceutical industry is entering a new phase of regulatory alignment as the Indian Pharmacopoeia Commission (IPC) moves toward implementing updated requirements for Elemental Impurities under IP Chapter 5.10, expected in July 2026. Aligned with the ICH Q3D guideline, the revised chapter introduces a comprehensive, risk-based framework to control elemental impurities arising from raw materials, catalysts, excipients, manufacturing processes, and container–closure systems. This transition reflects a broader global shift toward harmonized standards, including USP &lt;232&gt;/&lt;233&gt;, European Pharmacopoeia 5.20, and corresponding requirements across other major pharmacopeias. Together, these frameworks emphasize control based on permitted daily exposure (PDE) limits supported by scientifically sound risk assessments.</strong></p><p>As India aligns with these global expectations, pharmaceutical manufacturers must adopt robust analytical and risk management strategies to ensure compliance. This includes implementing sensitive, multi-element detection workflows, where ICP-MS has emerged as the industry benchmark. In this webinar, we will explore how laboratories can prepare for this transition by connecting regulatory expectations with practical analytical execution. The session will cover:</p><ul><li>Risk-based approaches for elemental impurity assessment aligned with ICH Q3D</li><li>Comparative perspectives across IP, USP, EP, and JP frameworks</li><li>Key considerations for analytical method development and multi-element screening</li><li>Practical ICP-MS workflows for reliable and compliant impurity monitoring</li></ul><p>Join us to learn how to design analytical strategies that ensure confident compliance with IP Chapter 5.10 while aligning with global standards - strengthening quality, regulatory readiness, and market competitiveness.</p><h4><strong>Key Learning Outcomes</strong></h4><ul><li>Understand upcoming IP 5.10 elemental impurity requirements and global alignment</li><li>Apply risk-based strategies for impurity identification and control</li><li>Select appropriate analytical approaches for multi-element detection</li><li>Implement ICP-MS workflows for reliable, compliant pharmaceutical testing</li></ul><blockquote><p><strong>Presenter:</strong> Mr. Arvind Kumar Sharma (Scientific Assistant, Indian Pharmacopoeia Commission, Ministry of Health &amp; Family Welfare - Government of India)</p><p>With six years of experience as a Scientific Assistant at Indian Pharmacopoeia Commission, he has played a key role in the current development of Indian Pharmacopoeia Reference Substances (IPRS) and Impurity Reference Substances. He has been engaged in the preparation and updating of draft monographs for publishing in Indian Pharmacopoeia (IP). Additionally, he has played a major role in the development of the latest edition of the National Formulary of India 2021 and has been involved in work related to the Pharmacovigilance Programme of India (PvPI). He holds a a M. Pharmacy in Pharmacology from Sinhgad Institute of Pharmaceutical Sciences, Pune and a B. Pharmacy from the College of Pharmacy, IPS Academy Indore. He has authored several articles published in international journals and organized and represented IPC at various national and international conferences and workshops. He has also participated in joint inspections for registration of manufacturing units and testing laboratories.</p><p><strong>Presenter: </strong>Dr. Vinay Jain (Application Engineer, Agilent Technologies, India)</p><p>Dr. Vinay Jain is working as the CoE Manager and Country Food Workflow Commercialization Lead at Agilent Technologies International. He holds a Ph.D. in Analytical Chemistry and has more than 33 years of analytical and research experience in spectroscopic and mass spectrometry techniques.</p><p>His specialization includes the development and validation of new analytical methods in accordance with regulatory guidelines. He has completed over 28 research projects with various national and international research and regulatory organizations. He holds two patents, has published 59 research papers, contributed two chapters to international handbooks, and authored 15 Agilent application notes. He received the Agilent TechInnovation Award in 2020 and 2022 for providing end-to-end workflow solutions. One of his innovations on LC-ICPMS was selected for the Winter Plasma Conference, and two were selected for the European Winter Plasma Conference for poster presentations.</p><p><strong>Presenter: </strong>Dr. Kuldeep Sharma (Business Development Manager - Pharma, Agilent Technologies)</p><p>Dr. Kuldeep Sharma has over 23 years of experience in area of pharmaceuticals analytical R&amp;D, analytical method development and validation, clinical and preclinical studies, and regulatory compliance. His professional journey covers a true blend of technical and commercial industry insight, with a PhD in biotechnology, over 13 years as an analytical research scientist (with leading pharma companies like Zydus Cadila, Lambda, Teva, and Jubilant Biosys), and 10 years as techno-commercial expert leading analytical instruments sales strategies and marketing initiatives.</p><p>During his industry experience, he has accomplished leading roles in domains covering analytical research, pharma quality compliance, and preclinical and analytical studies. With over 21 research articles published in international journals and 5 technical write-ups in leading magazines, he presents an attitude of continued learning, enabling him to acquire advance certifications of Lean Six Sigma-Black Belt and MBA (Operations Management) in addition to his professional journey.</p><p>Presently, he works as a sales development manager for pharmaceutical markets at Agilent Technologies in India.</p></blockquote>

Agilent Technologies: Getting Elemental Impurity Testing Right: Preparing for upcoming regulatory changes with Advanced Analytical Workflows

Getting Elemental Impurity Testing Right: Preparing for upcoming regulatory changes with Advanced Analytical Workflows

Learn how to meet IP 5.10 elemental impurity requirements using ICP-MS, risk-based strategies, and global pharmacopeia alignment.

Mohlo by Vás zajímat

Systém Hypulse pro analýzu povrchů

Wiley rozšiřuje své IR a Ramanovy spektrální knihovny

Pozvánka na dvoudenní seminář o materiálové charakterizaci a elektronové mikroskopii