Multi-residue Analysis for PAHs, PCBs and OCPs on Agilent J&W FactorFour VF-Xms
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
GC/MSD, GC/SQ, GC kolony, Spotřební materiál
Instrumentace
GC/MSD, GC/SQ, GC kolony, Spotřební materiál
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí