Aplikace z oblasti Polovodiče se zaměřením na ICP/MS | LabRulez ICPMS
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Před
1
Další
Mohlo by Vás zajímat
„První komunikátoři vědy pro mě byli už učitelé na střední,“ říká výzkumnice a laureátka ceny Učené společnosti Barbora Rudzanová
Ne, 2.6.2024
RECETOX - Centrum pro výzkum toxických látek v prostředí
Podcast CHEmic #29 – Divadlo i věda nám pomáhají porozumět světu, říká dramatik a matematik René Levínský
Čt, 30.5.2024
Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
Jak české grantové agentury podporují ženy a rodiče ve vědě? Díl první – GA ČR a TA ČR