Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Polovodiče | LabRulez ICPMS
Thermal Desorption Analysis of Si Wafer Contaminants
Aplikace
| N/A | GL Sciences
GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, Termální desorpce, GC/SQ
Výrobce
Shimadzu, CTC Analytics, GL Sciences
Zaměření
Polovodiče
UV Degradation Analysis of Material for Solar Cell Modules Using GC/MS and FTIR
Aplikace
| 2018 | Shimadzu
GC/MSD, Pyrolýza, GC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, Pyrolýza, GC/SQ
Výrobce
Shimadzu, Frontier Lab
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Phthalate Analysis in Accordance with an IEC Standard Method
Aplikace
| N/A | CDS Analytical
GC/MSD, Pyrolýza
Instrumentace
GC/MSD, Pyrolýza
Výrobce
CDS Analytical
Zaměření
Polovodiče
Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
On-Line Thermal Desorption Analysis As Replacement for Solvent Extraction Methods
Aplikace
| N/A | CDS Analytical
GC, Termální desorpce
Instrumentace
GC, Termální desorpce
Výrobce
Buck Scientific, CDS Analytical
Zaměření
Polovodiče
Detection of molecular ions from OLED material using AccuTOF GC
Aplikace
| 2006 | JEOL
GC/MSD, GC/TOF
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
JEOL
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Instant, Comprehensive, and Sensitive Airborne Molecular Contaminant (AMC) Analysis Using SIFT-MS
Aplikace
| 2017 | Syft Technologies
SIFT-MS
Instrumentace
SIFT-MS
Výrobce
Syft Technologies
Zaměření
Polovodiče
Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Py-GC/MS Analysis of Electronic Circuit Board Parts Using Nitrogen Carrier Gas
Aplikace
| 2016 | Shimadzu
GC/MSD, Pyrolýza, GC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, Pyrolýza, GC/SQ
Výrobce
Shimadzu, Frontier Lab
Zaměření
Polovodiče
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
Aplikace
| N/A | ZOEX/JSB
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Instrumentace
GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
Výrobce
JEOL, ZOEX/JSB
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.