Trace Elemental Analysis of Trichlorosilane by Agilent ICP-MS
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
Technické články
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Basic Performance of the Agilent 7700s ICP-MS for the Analysis of Semiconductor Samples
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Analysis of Metallic Impurities in Specialty Semiconductor Gases Using Gas Exchange Device (GED)-ICP-MS
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Ultratrace Analysis of Solar (Photovoltaic) Grade Bulk Silicon by ICP-MS
Aplikace
| 2008 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
Ostatní
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
A Dynamic Lab Servicing the Semiconductor Industry
Ostatní
| 2022 | Savillex
Příprava vzorků, Spotřební materiál
Instrumentace
Příprava vzorků, Spotřební materiál
Výrobce
Savillex
Zaměření
Polovodiče
WCPS: Ultratrace Analysis of Phosphorus, Boron and Other Impurities in Photovoltaic Silicon and Trichlorosilane by ICP-MS with High Energy Collision Cell
Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Direct Measurement of Metallic Impurities in 20% Ammonium Hydroxide by 7700s/7900 ICP-MS
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Direct Analysis of Photoresist and Related Solvents Using the Agilent 7500cs ICP-MS