Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Materiálová analýza
Polovodiče
(1)
Materiálová analýza
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Termální analýza
(2)
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
(3)
Shimadzu
(2)
Autor
Agilent Technologies
(3)
Shimadzu
(2)
Typ Publikace
Aplikace
Brožury a specifikace
(2)
Ostatní
(1)
Příručky
(3)
Aplikace
Rok vydání
Aplikace z oblasti Materiálová analýza se zaměřením na FTIR Spektroskopie | LabRulez ICPMS
Characterization of Fluoropolymers Using FTIR and TG-DTA to Support the Growth of 5G
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Termální analýza
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Termální analýza
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Ceramic Molded Products by Thermal Analysis
Aplikace
| 2024 | Shimadzu
Termální analýza, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Termální analýza, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring the reflective properties of architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR with 10 degree Specular Refl ectance Accessory
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Před
1
Další
Mohlo by Vás zajímat
Laboratoř anorganické chemie ALS Czech Republic v Praze
St, 22.5.2024
ALS Czech Republic
Pozvánka na LABOREXPO - stánek ALTIUM INTERNATIONAL
Út, 21.5.2024
Altium International
Přednáška LABOREXPO 2024: Budoucnost analýzy potravin a krmiv pomocí NIR spektrometrie
Po, 20.5.2024
LabRulez
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.