Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS

The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie

Instrumentace

NIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES

Postery

| 2017 | Agilent Technologies

MP/ICP-AES

Instrumentace

MP/ICP-AES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Cobalt Insight200M by Agilent

Brožury a specifikace

| 2020 | Agilent Technologies

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy

Aplikace

| 2023 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Rapid, Automated, Quality Control Measurements of Diffraction Grating Efficiency

Aplikace

| 2018 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Laser Ablation (LA)-ICP-MS for Production Control of Nickel Alloys

Aplikace

| 2005 | Agilent Technologies

ICP/MS, Laserová ablace

Instrumentace

ICP/MS, Laserová ablace

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

ICP/OES

Instrumentace

ICP/OES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS

The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES

Cobalt Insight200M by Agilent

High Temperature Dehydration Studies Using UV-Vis-NIR Diffuse Reflectance Spectroscopy

Rapid, Automated, Quality Control Measurements of Diffraction Grating Efficiency

Laser Ablation (LA)-ICP-MS for Production Control of Nickel Alloys

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

Mohlo by Vás zajímat

LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

SHIMADZU: Pololetní události – Příležitosti k setkání s Vámi

Přednáška LABOREXPO 2024: Kam směřuje FTIR a Ramanova spektrometrie? Nové technologie, kde je hledat a jak je využít.