Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Investigation of Microplastic Size and Number Changes During Simulated UV-Degradation Using Single Particle ICP-MS/MS
Postery
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Artificially Weathered PET and a Separate PET Hydrolysis Evaluation Using the 4300 Handheld FTIR
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Exploring the relationship between ergonomics and measurement quality in handheld FTIR spectrometers
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of Elemental Impurities in Graphite-based Anodes using the Agilent 5110 ICP-OES
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry
Brožury a specifikace
| 2020 | Agilent Technologies
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.