Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector
Brožury a specifikace
| 2016 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
An Example of Observing Reduction Gear Using the Microfocus X-Ray CT System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Influence of Voids on Fatigue Life of 3D Printed Titanium Alloy Specimens
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Multifaceted Evaluation of Plastics: Differences due to PC/ABS Resin Compounding Ratio
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of CIGS Solar Cell by ICPE-9000
Aplikace
| N/A | Shimadzu
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Observation of Wireless Earphones Using a Microfocus X-ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.