Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Using IR and Raman to solve real-world problems - A KnowItAll polymer case study
Brožury a specifikace
| N/A | Wiley
Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Wiley
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Příručky
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent ICP-MS Journal (May 2005 – Issue 23)
Ostatní
| 2005 | Agilent Technologies
ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Polymers and Rubbers Application Compendium
Příručky
| 2010 | Agilent Technologies
HPLC, LC/MS, SFC, GPC/SEC, LC/SQ, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
HPLC, LC/MS, SFC, GPC/SEC, LC/SQ, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
High Volume Optical Component Testing
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Rapid Quantification of the A:B mix- ratio of a 2K Industrial OEM PU paint prior to autoclave thermal activation
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.