Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Guide to Lithium-ion Battery Solutions
Příručky
| 2022 | Shimadzu
GC, GC/MSD, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Low-level lead speciation and isotope ratio analysis by GC-MC-ICP-MS
Aplikace
| 2019 | Thermo Fisher Scientific
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Observation of Wireless Earphones Using a Microfocus X-ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Regulatory Calculations Using the Spectral Evaluation Function: Evaluating Spectacle Lenses as Specified by JIS T7333
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Instruments for Evaluations Rubber and Plastics
Brožury a specifikace
| 2016 | Shimadzu
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, Mikroskopie, X-ray, MP/ICP-AES, AAS, GPC/SEC, GC/SQ, HeadSpace, Pyrolýza, HPLC, GC/MSD, Termální desorpce, Spotřební materiál
Instrumentace
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, Mikroskopie, X-ray, MP/ICP-AES, AAS, GPC/SEC, GC/SQ, HeadSpace, Pyrolýza, HPLC, GC/MSD, Termální desorpce, Spotřební materiál
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.