Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Extraction of Binders from Ceramics and Powder Injection Moldings Using Supercritical Fluids

Aplikace

| N/A | Applied Separations

Příprava vzorků

Instrumentace

Příprava vzorků

Výrobce

Zaměření

Materiálová analýza

Determination of cations on the surface of printed circuit boards

Aplikace

| N/A | Metrohm

Iontová chromatografie

Instrumentace

Iontová chromatografie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

Uniform Dyeing of Polyester with Supercritical CO2

Aplikace

| N/A | Applied Separations

Příprava vzorků

Instrumentace

Příprava vzorků

Výrobce

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Aplikace

| 2012 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Determination of chromium(VI) in toy migration solution applying IC-ICP/MS

Aplikace

| N/A | Metrohm

IC-MS, ICP/MS, Speciační analýza

Instrumentace

IC-MS, ICP/MS, Speciační analýza

Výrobce

Agilent Technologies, Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

Measurement of Hexavalent Chromium in Chromate Conversion Coating and Metal Ions in Eluate

Aplikace

| 2016 | Shimadzu

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Electronic base material tested for halogen-free definition applying Metrohm Combustion IC

Aplikace

| N/A | Metrohm

Iontová chromatografie

Instrumentace

Iontová chromatografie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Using a Reagent-Free ion chromatography system to monitor trace anion contamination in the extracts of electronic components

Aplikace

| 2017 | Thermo Fisher Scientific

Iontová chromatografie

Instrumentace

Iontová chromatografie

Výrobce

Thermo Fisher Scientific

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Extraction of Binders from Ceramics and Powder Injection Moldings Using Supercritical Fluids

Determination of cations on the surface of printed circuit boards

Uniform Dyeing of Polyester with Supercritical CO2

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Determination of chromium(VI) in toy migration solution applying IC-ICP/MS

Measurement of Hexavalent Chromium in Chromate Conversion Coating and Metal Ions in Eluate

Electronic base material tested for halogen-free definition applying Metrohm Combustion IC

The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

Using a Reagent-Free ion chromatography system to monitor trace anion contamination in the extracts of electronic components

Mohlo by Vás zajímat

Představení nového ICP‑MS 7900: jedinečná technologie a výkon

Najděte svou vysněnou práci v analytické chemii s LabRulez KARIÉRA!

LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)