Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX

Aplikace

| 2012 | Shimadzu

AAS, MP/ICP-AES, X-ray

Instrumentace

AAS, MP/ICP-AES, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Inline analysis of borate and sulfate solutions with Raman spectroscopy

Aplikace

| 2023 | Metrohm

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Agilent 4300 Handheld Portable FTIR

Aplikace

| 2016 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

UPF Evaluation of Fabric Products such as Functional Masks

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Rapid Quantification of the A:B mix- ratio of a 2K Industrial OEM PU paint prior to autoclave thermal activation

Aplikace

| 2017 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Iron and Steel Analysis Using ICPE-9000

Aplikace

| N/A | Shimadzu

MP/ICP-AES

Instrumentace

MP/ICP-AES

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Measurement of Hexavalent Chromium in Chromate Conversion Coating and Metal Ions in Eluate

Aplikace

| 2016 | Shimadzu

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging

Aplikace

| 2014 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Aplikace

| 2012 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX

Inline analysis of borate and sulfate solutions with Raman spectroscopy

Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy

Agilent 4300 Handheld Portable FTIR

UPF Evaluation of Fabric Products such as Functional Masks

Rapid Quantification of the A:B mix- ratio of a 2K Industrial OEM PU paint prior to autoclave thermal activation

Iron and Steel Analysis Using ICPE-9000

Measurement of Hexavalent Chromium in Chromate Conversion Coating and Metal Ions in Eluate

Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Mohlo by Vás zajímat

Laboratoř anorganické chemie ALS Czech Republic v Praze

Pozvánka na LABOREXPO - stánek ALTIUM INTERNATIONAL

Přednáška LABOREXPO 2024: Budoucnost analýzy potravin a krmiv pomocí NIR spektrometrie (OPTIK INSTRUMENTS)