Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Automated, Unattended, Multi-Angle Transmission and Absolute Reflection Measurements

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Aplikace

| 2018 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS

Aplikace

| 2021 | Agilent Technologies

ICP/MS

Instrumentace

ICP/MS

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza, Ostatní

Optical Characterization of Thin Films

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

High Volume Optical Component Testing

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Multilayer packaging material analysis using Laser Direct Infrared (LDIR) Imaging

Aplikace

| 2018 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Calcium Compounds by Rietveld Method

Aplikace

| 2018 | Shimadzu

XRD

Instrumentace

XRD

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

The carbon battle characterization of screen-printed carbon electrodes with SPELEC RAMAN

Aplikace

| N/A | Metrohm

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

ICP/OES

Instrumentace

ICP/OES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Automated, Unattended, Multi-Angle Transmission and Absolute Reflection Measurements

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS

Optical Characterization of Thin Films

High Volume Optical Component Testing

Multilayer packaging material analysis using Laser Direct Infrared (LDIR) Imaging

Quantitative Analysis of Calcium Compounds by Rietveld Method

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

The carbon battle characterization of screen-printed carbon electrodes with SPELEC RAMAN

Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

Mohlo by Vás zajímat

„První komunikátoři vědy pro mě byli už učitelé na střední,“ říká výzkumnice a laureátka ceny Učené společnosti Barbora Rudzanová

Podcast CHEmic #29 – Divadlo i věda nám pomáhají porozumět světu, říká dramatik a matematik René Levínský

Jak české grantové agentury podporují ženy a rodiče ve vědě? Díl první – GA ČR a TA ČR