ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Ceramic Analysis by EDXRF

    Aplikace
    | 2019 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Direct measurement of trace rare earth elements (REEs) in high-purity REE oxide using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS with MS/MS mode

    Aplikace
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Determination of Elemental Impurities in Silicon-Carbon Anode Materials for Lithium-Ion Batteries by ICP-OES

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    Analysis of Elemental Impurities in Lithium Iron Phosphate Cathode Materials for LIBs by ICP-OES

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    Fast, Accurate, Robust Analysis of Multiple Elements in Steel by ICP-OES

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    High sensitivity analysis of SiO2 nanoparticles using the Agilent 8900 ICP-QQQ in MS/MS mode

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Lead, Cadmium, Silver, Copper in Lead-Free Solder Materials

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Positive Material Identification: Qualification, Composition Verification and Counterfeit Detection of Polymeric Material using Mobile FTIR Spectrometers

    Aplikace
    | 2014 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Leach Test for Phenol in Rubber Nipples

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

    Út, 16.4.2024
    Altium International
    ‌

    Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

    Po, 15.4.2024
    ANALYTIKA
    ‌

    Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová

    Čt, 25.4.2024
    Akademie věd České republiky
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.