Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

Aplikace

| 2023 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

EDXRF Analysis of Polymer Film

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Identification of Copper Concentrates Using EDX and XRD

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray, XRD

Instrumentace

X-ray, XRD

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Analysis of Discoloration and Coloration Using FTIR and EDX

Aplikace

| 2016 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Evaluating Optical Properties of Diamonds and Natural Gemstones

Aplikace

| 2018 | Shimadzu

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Aplikace

| 2018 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

High-Speed Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Linear Guide)

Aplikace

| 2019 | Shimadzu

XRD

Instrumentace

XRD

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

EDXRF Analysis of PM2.5 (Particle Matter)

Aplikace

| 2013 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

EDXRF Analysis of Polymer Film

Identification of Copper Concentrates Using EDX and XRD

Analysis of Discoloration and Coloration Using FTIR and EDX

Evaluating Optical Properties of Diamonds and Natural Gemstones

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

High-Speed Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Linear Guide)

EDXRF Analysis of PM2.5 (Particle Matter)

Mohlo by Vás zajímat

Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová