ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Electronics & Chemicals - Application Notebook

    Příručky
    | 2019 | Shimadzu
    GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Termální desorpce, Purge and Trap, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, GC kolony, Spotřební materiál, Software, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Fluorescenční spektroskopie, Mikroskopie, X-ray
    Instrumentace
    GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Termální desorpce, Purge and Trap, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, GC kolony, Spotřební materiál, Software, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Fluorescenční spektroskopie, Mikroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu, Frontier Lab
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Nebezpečné látky, Materiálová analýza

    RAFA: Heavy Metals in Plastic, Recycling and Environmental aspects

    Postery
    | 2015 | Shimadzu (RAFA)
    NIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative analysis of tint in polymer pellets and disks

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Measuring the reflective properties of architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR with 10 degree Specular Refl ectance Accessory

    Aplikace
    | 2013 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Chromium, Lead and Cadmium in Metals (Brass)

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Lead in Lead-Free Solder Materials

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Lead and Cadmium in Aluminum Alloy

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Using IR and Raman to solve real-world problems - A KnowItAll polymer case study

    Brožury a specifikace
    | N/A | Wiley
    Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Wiley
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Unattended, Automated Measurements of Optical Components in a Production Environment

    Technické články
    | 2018 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Cd and Pb

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    ANALYTIKA: Setkejte se s námi na veletrzích a konferencích

    Po, 22.4.2024
    ANALYTIKA

    Představení systému Metrohm OMNIS NIRS

    Po, 22.4.2024
    Metrohm Česká republika

    Wiley vydal AntiBase Library 2024 - nejnovější verzi Wileyho knihovny pro identifikaci přírodních látek

    Ne, 28.4.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.