Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

Aplikace

| 2017 | Shimadzu

AAS, X-ray

Instrumentace

AAS, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Aplikace

| 2018 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX

Aplikace

| 2012 | Shimadzu

AAS, MP/ICP-AES, X-ray

Instrumentace

AAS, MP/ICP-AES, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Lead in lead-free solder – EDX-720

Ostatní

| 2006 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Vis-NIR spectroscopic analysis of wood pulps for multiparameter prediction

Aplikace

| N/A | Metrohm

NIR Spektroskopie

Instrumentace

NIR Spektroskopie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

Fast, Accurate, Robust Analysis of Multiple Elements in Steel by ICP-OES

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

ICP/OES

Instrumentace

ICP/OES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Brožury a specifikace

| 2022 | Shimadzu

GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC

Instrumentace

GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

Analysis of copolymer levels in polymer pellets by near-infrared spectroscopy

Aplikace

| N/A | Metrohm

NIR Spektroskopie

Instrumentace

NIR Spektroskopie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

Multilayer Film Analysis Using the AIMsight Infrared Microscope

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, Mikroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, Mikroskopie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX

Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System

Lead in lead-free solder – EDX-720

Vis-NIR spectroscopic analysis of wood pulps for multiparameter prediction

Fast, Accurate, Robust Analysis of Multiple Elements in Steel by ICP-OES

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Analysis of copolymer levels in polymer pellets by near-infrared spectroscopy

Multilayer Film Analysis Using the AIMsight Infrared Microscope

Mohlo by Vás zajímat

Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová