ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of copolymer levels in polymer pellets by near-infrared spectroscopy

    Aplikace
    | N/A | Metrohm
    NIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative Analysis of Calcium Compounds by Rietveld Method

    Aplikace
    | 2018 | Shimadzu
    XRD
    Instrumentace
    XRD
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

    Příručky
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče

    Product Catalogue ALS EUROPE (WASTE)

    Brožury a specifikace
    | N/A | ALS Europe
    GC, GC/MSD, GC/HRMS, ICP/OES, Elektrochemie
    Instrumentace
    GC, GC/MSD, GC/HRMS, ICP/OES, Elektrochemie
    Výrobce
    Zaměření
    Životní prostředí, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Ostatní
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.
    ‌

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International
    ‌

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.