Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Brožury a specifikace

| 2016 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Micro-Contaminant Analysis Using AIMsight Infrared Microscope

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, Mikroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, Mikroskopie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Životní prostředí, Materiálová analýza

Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface

Aplikace

| 2023 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

AGILENT AEROSPACE ANALYZER

Ostatní

| 2016 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Cleanliness Evaluation of Orthopedic Implants Using TOC

Aplikace

| 2019 | Shimadzu

TOC

Instrumentace

TOC

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Příručky

| 2017 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza

Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Aplikace

| 2017 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging

Aplikace

| 2014 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface

Micro-Contaminant Analysis Using AIMsight Infrared Microscope

Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface

AGILENT AEROSPACE ANALYZER

Cleanliness Evaluation of Orthopedic Implants Using TOC

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging

Mohlo by Vás zajímat

Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová