ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Shimadzu FTIR talk letter Vol. 37

    Ostatní
    | 2021 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    Shimadzu FTIR talk letter vol. 36

    Ostatní
    | 2021 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of PM2.5 (Particle Matter)

    Aplikace
    | 2013 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Measuring optical filters

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Elemental Analysis of Pure Metals and Alloys by Femtosecond Laser Ablation (LA-)ICP-MS

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Composite heat damage measurement using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of Nitrogen in Low Alloy Steel

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    Optická emisní spektrometrie
    Instrumentace
    Optická emisní spektrometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Orientation Measurement of Polymers

    Aplikace
    | 2020 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    AFM Evaluation of Different-Sized Active Materials and Interface of All-Solid-State Lithium-Ion Batteries

    Postery
    | 2023 | Shimadzu
    Mikroskopie
    Instrumentace
    Mikroskopie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International
    ‌

    Metrohm: Obchodní a aplikační specialista

    Ne, 5.5.2024
    Metrohm Česká republika
    ‌

    Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

    Po, 13.5.2024
    ANALYTIKA
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.