ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Aplikace z oblasti Materiálová analýza - strana 1

Determination of ultratrace elements in semiconductor grade TMAH developer

Aplikace
| 2018 | Thermo Fisher Scientific
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of plasma treated carbon fiber reinforced polymer (CFRP) composites by portable Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR)

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Measuring Diamond-like Carbon Films by Dispersive Raman Spectroscopy

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Heavy Metals in Toys and Accessories by ICPE-9800 Series

Aplikace
| 2015 | Shimadzu
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Simultaneous Analysis of Trace and Major Elements in Iron and Steel by ICPE-9820

Aplikace
| 2014 | Shimadzu
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Precision Analysis of Toxic Elements in Plastic by ICPE-9800 Series

Aplikace
| 2014 | Shimadzu
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of CIGS Solar Cell by ICPE-9000

Aplikace
| N/A | Shimadzu
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Tableware Analysis Using ICPE-9000

Aplikace
| N/A | Shimadzu
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

LIBS technology for non-scientists

Prezentace
| 2020 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.