ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

    Aplikace
    | 2017 | Shimadzu
    AAS, X-ray
    Instrumentace
    AAS, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Polymer Film

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative Analysis of Fluorine by EDXRF: Powder and Fluorine-Containing Fil

    Aplikace
    | 2021 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

    Aplikace
    | 2017 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

    Brožury a specifikace
    | 2016 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

    Aplikace
    | 2021 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX

    Aplikace
    | 2012 | Shimadzu
    AAS, MP/ICP-AES, X-ray
    Instrumentace
    AAS, MP/ICP-AES, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Confirmation of Raw Material Quality - Dealing with "Silent Change" Counterfeiting

    Aplikace
    | 2015 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    S udržitelností u veřejných zakázek záleží na financování

    Ne, 28.4.2024
    Forum: magazín Univerzity Karlovy
    ‌

    Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová

    Čt, 25.4.2024
    Akademie věd České republiky
    ‌

    Vědeckotechnické parky: Ostrava a Plzeň. A co Praha?

    Čt, 25.4.2024
    Vědavýzkum.cz
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.