ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Molecular Spectroscopy Application eHandbook

    Příručky
    | 2017 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza

    ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Instrumentace
    LC/Orbitrap, ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA

    Aplikace
    | 2017 | Shimadzu
    AAS, X-ray
    Instrumentace
    AAS, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDXRF Analysis of Polymer Film

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative Analysis of Fluorine by EDXRF: Powder and Fluorine-Containing Fil

    Aplikace
    | 2021 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings

    Aplikace
    | 2023 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantifying "Silent Change" Using EDXIR-Analysis Software: EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

    Aplikace
    | 2017 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

    Brožury a specifikace
    | 2016 | Shimadzu
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

    Aplikace
    | 2021 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    ANALYTIKA: Setkejte se s námi na veletrzích a konferencích

    Po, 22.4.2024
    ANALYTIKA

    Představení systému Metrohm OMNIS NIRS

    Po, 22.4.2024
    Metrohm Česká republika

    Wiley vydal AntiBase Library 2024 - nejnovější verzi Wileyho knihovny pro identifikaci přírodních látek

    Ne, 28.4.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.