Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Spectroelectrochemistry Applications Book
Příručky
| 2022 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Fluorine by EDXRF: Powder and Fluorine-Containing Fil
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Inline analysis of borate and sulfate solutions with Raman spectroscopy
Aplikace
| 2023 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Instruments for Evaluations Rubber and Plastics
Brožury a specifikace
| 2016 | Shimadzu
GC/MSD, HeadSpace, Pyrolýza, GC/SQ, HPLC, GPC/SEC, UV–VIS Spektrofotometrie, AAS, MP/ICP-AES, Mikroskopie, X-ray
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Pyrolýza, GC/SQ, HPLC, GPC/SEC, UV–VIS Spektrofotometrie, AAS, MP/ICP-AES, Mikroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Polovodiče, Klinická analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.