Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
PRODUCT QUALITY ASSURANCE SOLUTIONS - SYFT TECHNOLOGIES
Brožury a specifikace
| 2017 | Syft Technologies
SIFT-MS
Instrumentace
SIFT-MS
Výrobce
Syft Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Spectroelectrochemistry Applications Book
Příručky
| 2022 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Inline analysis of borate and sulfate solutions with Raman spectroscopy
Aplikace
| 2023 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Instruments for Evaluations Rubber and Plastics
Brožury a specifikace
| 2016 | Shimadzu
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, Mikroskopie, X-ray, MP/ICP-AES, AAS, GPC/SEC, GC/SQ, HeadSpace, Pyrolýza, HPLC, GC/MSD, Termální desorpce, Spotřební materiál
Instrumentace
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, Mikroskopie, X-ray, MP/ICP-AES, AAS, GPC/SEC, GC/SQ, HeadSpace, Pyrolýza, HPLC, GC/MSD, Termální desorpce, Spotřební materiál
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Handbook of ICP-QQQ Applications using the Agilent 8800 and 8900
Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Polovodiče, Klinická analýza
Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
Brožury a specifikace
| 2022 | Shimadzu
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.