Aplikace se zaměřením na ICP/MS od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS
Introduction to Laser Ablation ICP-MS for the Analysis of Forensic Samples
Technické články
| 2004 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
Methods for the Forensic Analysis of Adhesive Tape Samples by LA-ICP- MS
Aplikace
| 2004 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
Analysis of Forensic Glass Samples by Laser Ablation ICP-MS
Aplikace
| 2004 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
Particle Size Analysis of Polystyrene Microplastics by Single Particle (sp) ICP-MS
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
WCPS: Investigation of Microplastic Size and Number Changes During Simulated UV-Degradation Using Single Particle ICP-MS/MS
Postery
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Using Elemental Fingerprints To Confirm The Geographic Origin Of Products
Ostatní
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/OES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Investigations into the use of helium collision mode and aerosol dilution for ultra-trace analysis of metals in mineral reference materials
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Robustness and Metal Release Testing of the New Agilent 1260 Infinity Bio-inert LC with Agilent 7700 ICP-MS
Postery
| N/A | Agilent Technologies
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Direct Analysis of Ultratrace Rare Earth Elements in Environmental Waters by ICP-QQQ