FACT - Jedinečný nástroj pro korekce spektrálních interferencí v ICP-OES
Technické články
| 2021 | Altium International (HPST) (Agilent Technologies)
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Real-time Spectral Correction of Complex Samples using FACT Spectral Deconvolution Software
Technické články
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer
Aplikace
| 2016 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
FACT spectral deconvolution
Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Oktapólová kolizně-reakční cela a Heliový mód
Technické články
| 2020 | Altium International (HPST) (Agilent Technologies)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) v ICP-OES
Technické články
| 2021 | Altium International (HPST) (Agilent Technologies)
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Mark-VI Spray Chamber for Flame Atomic Absorption Spectrometry
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Direct determination of Cu, Fe, Mn, P, Pb and Ti in HF acid-digested soils using the Agilent 4200 Microwave Plasma- Atomic Emission Spectrometer