ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Kovy vzácných zemin (REE) jako analyt nebo interferent při analýze pomocí ICPMS SQ vs. ICPMS QQQ

    Prezentace
    | 2022 | Altium International (HPST)
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Real-time Spectral Correction of Complex Samples using FACT Spectral Deconvolution Software

    Technické články
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer

    Aplikace
    | 2016 | Agilent Technologies
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    FACT spectral deconvolution

    Technické články
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    FACT - Jedinečný nástroj pro korekce spektrálních interferencí v ICP-OES

    Technické články
    | 2021 | Altium International (HPST) (Agilent Technologies)
    Software, ICP/OES
    Instrumentace
    Software, ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Mark-VI Spray Chamber for Flame Atomic Absorption Spectrometry

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Direct determination of Cu, Fe, Mn, P, Pb and Ti in HF acid-digested soils using the Agilent 4200 Microwave Plasma- Atomic Emission Spectrometer

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    ICP-OES Background and Interference Removal

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Agilent ICP Expert II - Software Status Bulletin

    Manuály
    | 2018 | Agilent Technologies
    Software, ICP/OES
    Instrumentace
    Software, ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

    St, 24.4.2024
    ALS Czech Republic

    ANALYTIKA: Setkejte se s námi na veletrzích a konferencích

    Po, 22.4.2024
    ANALYTIKA

    Představení systému Metrohm OMNIS NIRS

    Po, 22.4.2024
    Metrohm Česká republika
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.