WCPS: ADVANCING PEFORMANCE OF AN AXIALLY VIEWED INDUCTIVELY COUPLED PLASMA OPTICAL EMISSION SPECTROMETER FOR SAMPLES HIGH SOLIDS BY INNOVATIVE TORCH DESIGN
Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Analysis of Potable Water for Trace Elements by ICP-OES
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Analysis of Used or Waste Oils by Method 3040 of SW–846 by ICP-OES
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
The Latest Advances in Axially Viewed Simultaneous ICP-OES for Elemental Analysis
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
The measurement of moisture content in mineral ore samples
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
CCD and CID solid-state detectors
Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface