Semiquantitative Screening of Pharmaceutical Antiviral Drugs using the Agilent 7500ce ICP-MS in Helium Collision Mode
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Agilent 7900 ICP-MS simplifies drinking water analysis
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Multi-Element Determination of Heavy Metals in Dietary Supplements Using Collision/Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2008 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies, CEM
Zaměření
Potraviny a zemědělství
High-Speed Environmental Analysis Using the Agilent 7500cx with Integrated Sample Introduction System – Discrete Sampling (ISIS–DS)
Aplikace
| 2009 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of 22 Elements Following US EPA Guidelines with a New Megapixel CCD ICP-OES
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Direct Analysis of Photoresist and Related Solvents Using the Agilent 7500cs ICP-MS
Aplikace
| 2004 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Ultra-fast ICP-OES determination of trace elements in water, as per US EPA 200.7
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Characterization of Antibody-Drug Conjugate Critical Quality Attributes Using the Agilent Cary 3500 UV-Vis Multizone Temperature Capability
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
RoHS/ELV Directives - Measurement of Heavy Metals Using ICP-MS
Aplikace
| 2006 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)