ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Assay of Alkali Metals in Pegmatite and Spodumene Ores by ICP-OES

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Determination of K, Na, and Zn in Albumin Using Flame AAS

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Klinická analýza

    WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of Ultratrace Impurities in High Purity Copper using the Agilent 8900 ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Polovodiče

    Are you measuring ICP-OES samples more than once?

    Příručky
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    14 Causes of Metals Analysis Failure

    Příručky
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Trace Metal Analysis of Waters using the Carbon Rod Atomizer — a Review

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Agilent Atomic Spectroscopy: AA, MP-AES, ICP-OES, ICP-MS, ICP-QQQ

    Postery
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Dedicated axial or radial plasma view for superior speed and performance

    Technické články
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance

    Technické články
    | 2014 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB

    Čt, 16.5.2024
    Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.