ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance Accessory for the Measurement of Optical Constants of Thin Films

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Linearity Limits for Several Trace Metals Currently Determined by Electrothermal Atomic Absorption Spectrometry

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Benefits of Transitioning From Flame AAS to the 4210 MP-AES

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    AAS, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    AAS, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Optimizing GFAAS Ashing and Atomizing Temperatures using Surface Response Methodology

    Technické články
    | 2018 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Characterization of nanoparticles in aqueous samples by ICP-MS

    Technické články
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    QC failures

    Ostatní
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    A Comparison of the Relative Cost and Productivity of Traditional Metals Analysis Techniques Versus ICP-MS in High Throughput Commercial Laboratories

    Technické články
    | 2005 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    WCPS: Fundamental Studies of a Nitrogen Microwave Plasma for Analytical Emission Spectroscopy

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Nanoparticle Analysis by ICP-MS - Why sensitivity is key

    Technické články
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

    Út, 16.4.2024
    Altium International
    ‌

    Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

    Po, 15.4.2024
    ANALYTIKA
    ‌

    Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová

    Čt, 25.4.2024
    Akademie věd České republiky
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.