ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    WCPS: ADVANCING PEFORMANCE OF AN AXIALLY VIEWED INDUCTIVELY COUPLED PLASMA OPTICAL EMISSION SPECTROMETER FOR SAMPLES HIGH SOLIDS BY INNOVATIVE TORCH DESIGN

    Postery
    | 2011 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Onsite FTIR quantitative analysis of water in mineral-based oils using a novel water stabilization technique

    Aplikace
    | 2013 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Evaluation of the Mark-VI Spray Chamber for Flame Atomic Absorption Spectrometry

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Agilent OneNeb Series 2 Nebulizers

    Ostatní
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/OES, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    ICP/OES, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Agilent ICP-OES Spectroscopy Supplies INVENTORY CHECKLIST

    Brožury a specifikace
    | 2014 | Agilent Technologies
    Spotřební materiál
    Instrumentace
    Spotřební materiál
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Analysis of High Solids Solutions by Flame Atomic Absorption

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    PFA Inert Kit Compatible with Agilent ICP-MS

    Technické články
    | 2019 | Savillex
    Spotřební materiál, ICP/MS
    Instrumentace
    Spotřební materiál, ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies, Savillex
    Zaměření

    Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    OneNeb Nebulizer From Agilent

    Aplikace
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/OES, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    ICP/OES, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)

    Aplikace
    | 2001 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

    St, 24.4.2024
    ALS Czech Republic

    Pozvánka na LABOREXPO & PROCESEXPO 2024

    Út, 23.4.2024
    CHEMAGAZÍN

    Aktuality v oblasti servisních služeb a zákaznických školení (M. Juříček) - NPI2023

    Út, 23.4.2024
    Altium International
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.