Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(93)
Forenzní analýza a toxikologie
(16)
Klinická analýza
(31)
Materiálová analýza
(97)
Instrumentace
AAS
(85)
Elementární analýza
(1)
FTIR Spektroskopie
(117)
Fluorescenční spektroskopie
(8)
Výrobce
Agilent Technologies
CEM
(18)
ELGA LabWater
(1)
Elemental Scientific
(7)
Agilent Technologies
Autor
Agilent Technologies
(848)
GERSTEL
(1)
Metrohm
(2)
Savillex
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(444)
Brožury a specifikace
(50)
Manuály
(24)
Ostatní
(109)
Rok vydání
Benefi ts of the Agilent Cary 8454 UV-Vis Diode Array for Multi-Wavelength Kinetics
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent Beam Enhancer Technology for High-Speed Transmission Raman Spectroscopy
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Measuring the cover and shade protection factors of synthetic shadecloth
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
RESEARCHER USES AGILENT INSTRUMENTS TO CREATE MORE EFFECTIVE ANALYTICAL METHODS
Ostatní
| 2016 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
ORS4 AND HELIUM MODE FOR MORE EFFECTIVE INTERFERENCE REMOVAL IN COMPLEX SAMPLES
Ostatní
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Direct Determination of the Concentration of Nitric Acid Using Spatially Offset Raman Spectroscopy
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Analysis of Artificially Weathered PET and a Separate PET Hydrolysis Evaluation Using the 4300 Handheld FTIR
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Total metals analysis of digested plant tissue using an Agilent 4200 Microwave Plasma-AES
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies, CEM
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Před
1
2
3
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)
Út, 7.5.2024
Altium International
Metrohm: Obchodní a aplikační specialista
Ne, 5.5.2024
Metrohm Česká republika
Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru
Po, 13.5.2024
ANALYTIKA
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.