GC-ICP-MS Helps Solve Biogas Usage Problem With Low Detection Limits for Siloxanes
Ostatní
| 2008 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Analysis of Volatile Metalloid Species in Gas Samples using a Commercial Cryotrapping System (TDS-G-CIS GC) Coupled to ICP-MS with PH3 and SF6 as Example Compounds
Aplikace
| 2002 | GERSTEL
GC, Termální desorpce, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, Termální desorpce, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies, GERSTEL
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství
Faster, Simpler, More Accurate Semiquantitative Analysis Using the Agilent 7500cx ICP-MS
Technické články
| 2007 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Material Identification of Plastics Throughout Their Life Cycle by FTIR Spectroscopy
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent ICP-MS Journal (January 2008 – Issue 33)
Ostatní
| 2008 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Agilent Certified Pre-Owned Instruments
Brožury a specifikace
| 2019 | Agilent Technologies
Instrumentace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Agilent ICP-MS Journal (June 2007 – Issue 31)
Ostatní
| 2007 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Klinická analýza
Determination of the Priority Pollutant Metals – Regulations and Methodology
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Monitoring Heavy Metals by ICP- OES for Compliance with RoHS and WEEE Directives
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Investigation of Microplastic Size and Number Changes During Simulated UV-Degradation Using Single Particle ICP-MS/MS