Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
Brožury a specifikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA)
Technické články
| 2013 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Measurement of Diffuse Reflection from Catalyst Powders
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Improved Measurement of Liquid Samples Using FTIR
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
The on-line measurement of VOCs in Flowing water
Aplikace
| 2014 | Anatune
GC
Instrumentace
GC
Výrobce
Agilent Technologies, GERSTEL, Anatune
Zaměření
Životní prostředí
The Measure of Purity - Water quality applications
Příručky
| 2019 | Agilent Technologies
GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Purge and Trap, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, MP/ICP-AES
Instrumentace
GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Purge and Trap, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí
Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing
Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.