APWC: Evaluating the dispersion of TiO2 nanoparticles via sp-ICP-MS for sunscreen powder analysis
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní
Agilent Mass Profiler Professional - Installation Guide
Manuály
| 2012 | Agilent Technologies
Software
Instrumentace
Software
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
WCPS: The Importance of single mass resolution when using MS/ MS technology via the Agilent 8900 ICPMS
Postery
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Determination of Pb, Cd, Cr and Ni in Grains Based on Four Chinese National Methods via Zeeman GFAAS
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Analysis of Volatile Metalloid Species in Gas Samples using a Commercial Cryotrapping System (TDS-G-CIS GC) Coupled to ICP-MS with PH3 and SF6 as Example Compounds
Aplikace
| 2002 | GERSTEL
GC, Termální desorpce, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, Termální desorpce, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies, GERSTEL
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství
Using the Agilent Cary Eclipse to measure the chemiluminescence from a ruthenium complex
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
Fluorescenční spektroskopie
Instrumentace
Fluorescenční spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Klinická analýza
WCPS: Trace Level Analysis of V, As and Se Using He Cell Gas via Kinetic Energy Discrimination and Collisional Dissociation in Acidic Matrices
Postery
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Positive Material Identification: Qualification, Composition Verification and Counterfeit Detection of Polymeric Material using Mobile FTIR Spectrometers
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Optimizing GFAAS Ashing and Atomizing Temperatures using Surface Response Methodology