Knihovna | LabRulez ICPMS

Measurement of Metal Ion in Plating Solution by Flame Atomic Absorption

Aplikace

| 2013 | Shimadzu

AAS

Instrumentace

AAS

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Průmysl a chemie

Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

Aplikace

| N/A | Shimadzu

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Aplikace

| 2018 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Simultaneous Analysis of Major and Trace Elements in Plating Solution by ICPE-9820

Aplikace

| 2014 | Shimadzu

MP/ICP-AES

Instrumentace

MP/ICP-AES

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Průmysl a chemie

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Asbestos (Chrysotile) Using Wide-Range High-Speed Detector "OneSight"

Aplikace

| 2014 | Shimadzu

XRD

Instrumentace

XRD

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Imaging Mass Microscope iMScope QT

Brožury a specifikace

| 2023 | Shimadzu

LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, Mikroskopie

Instrumentace

LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, Mikroskopie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Measurement of TOC in Electroplating Solution Using TOC-V WS

Aplikace

| N/A | Shimadzu

TOC

Instrumentace

TOC

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Průmysl a chemie

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Measurement of Metal Ion in Plating Solution by Flame Atomic Absorption

Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Simultaneous Analysis of Major and Trace Elements in Plating Solution by ICPE-9820

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Asbestos (Chrysotile) Using Wide-Range High-Speed Detector "OneSight"

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Imaging Mass Microscope iMScope QT

Measurement of TOC in Electroplating Solution Using TOC-V WS

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Mohlo by Vás zajímat

Laboratoř anorganické chemie ALS Czech Republic v Praze

Pozvánka na LABOREXPO - stánek ALTIUM INTERNATIONAL

Přednáška LABOREXPO 2024: Budoucnost analýzy potravin a krmiv pomocí NIR spektrometrie (OPTIK INSTRUMENTS)