Monitoring Heavy Metals by ICP- OES for Compliance with RoHS and WEEE Directives
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Thermo Scientific DXR/SERS Analysis Package
Brožury a specifikace
| 2010 | Thermo Fisher Scientific
RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of Mercury in Microwave Digests of Foodstuffs by ICP-MS
Aplikace
| 2004 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies, CEM
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Methods for the Forensic Analysis of Adhesive Tape Samples by LA-ICP- MS
Aplikace
| 2004 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
Analytical data transfer between a Fourier transform and a dispersive NIR instrument
Technické články
| N/A | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Near-infrared analysis of polyols: process monitoring in a hostile environment
Aplikace
| N/A | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie
The NanoRam Hand-held Raman Spectrometer: Full Regulatory Compliance for the Inspection of Raw Materials and Chemicals Used in the Pharmaceutical Industry
Technické články
| N/A | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Farmaceutická analýza
Speciation of Cr(III) and Cr(VI) by IC-ICP-MS and Empower 3
Postery
| N/A | Metrohm
Software, Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS
Instrumentace
Software, Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS
Výrobce
PerkinElmer, Waters, Metrohm
Zaměření
Životní prostředí
Mnova Gears (User Manual)
Manuály
| 2023 | SciY/Mestrelab Research
Software
Instrumentace
Software
Výrobce
SciY/Mestrelab Research
Zaměření
Ostatní
Thermo Scientific ARL iSpark Plus Optical Emission Spectrometer: Options for ultra-fast inclusion analysis