ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Monitoring Volatile Organic Compounds in Beer Production Using the Clarus SQ 8 GC/MS and TurboMatrix Headspace Trap Systems

    Aplikace
    | 2011 | PerkinElmer
    GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ
    Instrumentace
    GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ
    Výrobce
    PerkinElmer
    Zaměření
    Potraviny a zemědělství

    Determination of percent ethylene in ethylene-propylene statistical copolymers

    Aplikace
    | 2012 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Agilent Instrument Control Framework (ICF)

    Manuály
    | 2020 | Agilent Technologies
    GC, HeadSpace, HPLC, SFC, Kapilární elektroforéza
    Instrumentace
    GC, HeadSpace, HPLC, SFC, Kapilární elektroforéza
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Offensive odor analysis of acrylic adhesive by thermal desorption (TD)-GC/MS

    Aplikace
    | N/A | Frontier Lab
    GC/MSD, Termální desorpce
    Instrumentace
    GC/MSD, Termální desorpce
    Výrobce
    Frontier Lab
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste

    Aplikace
    | N/A | ZOEX/JSB
    GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
    Instrumentace
    GCxGC, GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF, Software
    Výrobce
    JEOL, ZOEX/JSB
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    Post-Target Analysis of Halogenated Flame Retardants Using Mass Defect Plots

    Postery
    | 2014 | LECO
    GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
    Výrobce
    Agilent Technologies, LECO
    Zaměření
    Životní prostředí

    Leveraging Cl-H Mass Defect Plots for the Identification of Halogenated Organic Contaminants

    Postery
    | 2016 | LECO
    GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/HRMS, GC/TOF
    Výrobce
    Agilent Technologies, LECO
    Zaměření
    Životní prostředí

    GC-APCI IMS of Diesel

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/TOF, GC/API/MS, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/TOF, GC/API/MS, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Addressing Concerns in QC Tests for GC Columns

    Technické články
    | 2012 | Agilent Technologies
    GC, GC kolony, Spotřební materiál
    Instrumentace
    GC, GC kolony, Spotřební materiál
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Off‐Flavor Analysis in Chemical Material Using a Thermal Desorption Method

    Aplikace
    | 2017 | Shimadzu
    GC/MSD, GC/MS/MS, Termální desorpce, GC/QQQ
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/MS/MS, Termální desorpce, GC/QQQ
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International

    Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

    Po, 13.5.2024
    ANALYTIKA

    Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU

    Ne, 12.5.2024
    SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.