ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Characterization of High-k Dielectric Materials on Silicon Using Angle Resolved XPS

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Evaluation of Photonic Materials with Biomimetic Structural Coloration

Aplikace
| 2017 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Dive deep into Stunner’s light scattering

Technické články
| 2024 | Unchained Labs
Charakterizace částic, Analýza velikosti částic, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
Charakterizace částic, Analýza velikosti částic, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Unchained Labs
Zaměření

Count, size and quant your LNPs with Stunner

Aplikace
| 2024 | Unchained Labs
Charakterizace částic, Analýza velikosti částic, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
Charakterizace částic, Analýza velikosti částic, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Unchained Labs
Zaměření
Lipidomika

Diffuse Reflectance Accessories (DRAs)

Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Measurement of Bidirectional Transmittance Distribution Function

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

High-Speed Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Linear Guide)

Aplikace
| 2019 | Shimadzu
XRD
Instrumentace
XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.